光谱反射仪是一种功能强大切且非接触式的薄膜测量方法，膜厚仪器，当薄膜厚度和光学常数在测量系统范围内时，系统能又快又轻松的测量。在用来测量薄膜厚度时，有几种常见的对光谱反射仪的误解

瑞士徕卡迪士通Leica DISTO X310激光测距仪可以测量距离, 小/大测量, 面积, 体积, 勾股 , 放样 (2 种数据), 三角形面积,房间角度,变换测量基准,加减,智能平距测量 、间接测量，无反射点测量，三角架接口等等。

光时域反射仪；OTDR是基本的光纤链路安装和维护的测试的工具；OTDR是基本的光纤链路安装和维护工作中的工具；OTDR利用其激光光源向被测光纤发送一光脉冲来实；OTDR通过测量反射信号与时间的关系,进行测试；距离：被测光纤上各特征点，光纤尾端或断裂处的位置；衰减：；反射：诸如连接器等事件点反射（或回波损耗）

。本仪器符合GB3978-83：标准照明体和照明观测条件。模拟D65照明体照明。采用d/o照明观测几何条件（ISO2469），漫射球直径φ150mm，设有光吸收器，消除了试样镜面反射光的影响。R457,本仪器用于测定物体的白度，它广泛应用于造纸、纺织、印染、塑料、陶瓷、搪瓷、粮食、建材、油漆、化工、盐和其他需要测定特体白度的生产和商检部门。仪器还可以测定纸张的透明度、不透明度、光散射系数和吸收系数

ITO玻璃尺寸瑕疵测量仪 高倍率显微镜技术与一身，可同时在一台机器上七海测量 ITO玻璃尺寸瑕疵导电离子测量仪进行尺寸检测和外观瑕疵检测的功能切换，特别适用于透明对光反射率很低的零件尺寸和瑕疵检测,七海测量 ITO玻璃尺寸瑕疵导电离子测量仪ITO玻璃尺寸|瑕疵|玻璃划痕|导电离子测量仪，是七海测量专业为玻璃面板和Touch Pannel，精密钣金和加工等行业开发的，集成了高分辨率的CCD镜头和

薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT同步测量薄膜的反射率/穿透率. 想了解更多薄膜分析仪 Filmetrics F10-RT欢迎来电咨询。

德国BYK AG4601雾影光泽度仪是应实验室的需要而设计的。一台仪器便可测量从低到高光泽表面的光泽，雾影和镜面反射。 被广泛应用于家电、乐器、家具、汽车、钢琴等高光泽油漆、涂料、金属、电镀层表面光,泽度测量。质量好的表面应该是有清晰明亮的外观。德国BYK AG4601雾影光泽度仪由于涂料中颜料分散的不好而导致的微结构会发生乳状的外观,这种效果成为雾影。区分雾影的程度有时候用20°的光泽度仪已经难以区分然而,?可以用60°角来测量区分这些材料

527型色调计特别为深色，没有固化的涂层(如涂在平面上的粘著颜料)的亮度测量而设计，从而根据ASTM D 3265和ASTM D 2745判定其色调强度。除了此特殊应用外，仪器也可作为一个标准的反射光度计，根据ASTM E97标准来测量固体物质(如涂层，纸张，塑料)的亮度。

深圳Agilent8712ET网络分析仪深圳Agilent8712ET网络分析仪深圳Agilent8712ET网络分析仪 8712ET是具有全范围幅度和相位测量能力的传输/反射测试装置。2个独立通道,可测量和显示2个器件参数，如传输和反射响应，这些参数可以有不同的格式，包括在直角坐标、极坐标或Smith图上显示复数阻抗、SWR和延迟。这些分析仪也利用先进的矢量误差校正技术提高测量精度。

上海罗中科技代理的932系列被设计用于测试反光材料的逆反射系数值（RA），包括夜间道路**标识颜色标准（CIE 1931xy）高亮度反光**服及其他反光材料。满足gb20653.gb/t28468.en iso 20471.en471等标准。

我们的太赫兹光谱仪TERA K15为获得高速宽带时域太赫兹光谱提供了一套完整的解决方案。光纤耦合 结构式是针对1.5 μm附近的激光驱动脉冲设计而成，提供了灵活的透射和反射式光路结构同时,，同时保证了高性能太赫兹输出。光纤耦合型太赫兹光路可放在光谱仪机壳之外便于灵活应用。TERA K15包括基于figure 9 ? 锁模技术的飞秒激光光源、附带延迟线的光纤耦合光路、附带太赫兹发射天线和探测,天线以及太赫兹光学元件的太赫兹光路、太赫兹电路和带有数据采集及分析软件（软件可以进行傅立叶光谱分析，折射率和吸收系数计算）的计算机。如需太赫兹成像应用，可以选配TERA Image自动扩展单元。

浊度是表现水中悬浮物对光线透过时所发生的阻碍程度。水中含有泥土、粉尘、细微有机物和其他微生物和胶体物可使水中呈现浊度。传感器上发射器发送的光波在传输过程中经过被测物的吸收、反射和散射后，有一部分透射,光线能照射到180°方向的检测器上，有一部分散射光散射到90°方向的检测器上。在180°和90°方向检测器上接收到的光线强度与被测污水的浊度有一定的关系，因此通过测量透射光和散射光的强度就可以计算出污水的浊度。

当探头发射的超声波脉冲通过被测物体到达材料分界面时，脉冲被反射回探头通过**测量超声波在材料中传播的时间来确定被测材料的厚度。凡能使超声波以一恒定速度在其内部传播的各种材料均可采用此原理测量。