ND-2515二次元影像测量仪适用于以二次元测量为目的的一切应用领域，在机械、电子、仪表、塑胶等行业被广泛使用，ND-2515二次元影像测量仪采用本公司开发的精密多段倍率，超低变形，远心光学设计,的变焦镜头，配上本公司专为光学测量而设计的专用 DSP CCD彩色影像系统，将被测工件的表面纹理清淅细致地显现，轮廓层次分明，**无误地放大 20~200倍作精密测量

UV762型采用全新的光学系统设计，使仪器的主机具有优良的光学性能和测光性能，杂散光和噪声低，测光**度和稳定可靠性高。优良的软件设计和编制，使仪器有较强的光谱数据处理功能：自动扫描测量光谱、多波长（1～3λ）测定、动力学测定、1～3次曲线拟合、1～4阶导数光谱、存取显示打印光谱图和分析数据。

时代TMVP-1S大屏数显手动转塔显微维氏硬度计,采用计算机软件控制，400X高倍率光学测量系统，高精度光电传感器技术实现压痕测量值自动输入，自动计算D1、D2平均值，并显示硬度值，压头手动切换,。通过软件输入，光源的强弱自动调节，并选择维氏和努氏试验方法、保持时间、文件号、储存等。提供了各种硬度值的转换表。在LCD大屏菜单式显示试验方法、试验力、压痕长度、硬度值、试验力保持时间、测量次数、试验结果

泡绵拉伸和断裂伸长率测定仪适用于软质泡沫聚合材料以恒定速率拉伸至断裂时拉伸强度和断裂伸长率的测试，试验速度为500mm±50mm/min，测定断裂伸长应选用配备机械或光学伸长测量系统的拉力试验机，采用伺服系统配伺服马达，性能稳定，**度高。

TDJ6倒像光学经纬仪是我国大地测量仪器系列中的中等精度光学经纬仪，用方向观测法，其一测回水平方向测量标准偏差不超过6″，产品性能，参数符合J6级光学经纬仪GB／T 3161-2003国家标准规定。TDJ6倒像光学经纬仪

结构，半导体周期性纳米结构，新材料，新物理现象研究，平板显示，光伏太阳能，功能性涂料，生物和化学工程，块状材料分析以及各种各向同性/异性薄膜材料膜厚、光学纳米光栅常数以及一维/二维纳米光栅材料结构的表征分析,。双旋转补偿器(DRC)配置一次测量全部穆勒矩阵16个元素；配置自动变角器、五维样件控制平台等上等硬件模块，软件交互式界面配合辅助向导式设计，易上手、操作便捷；丰富的数据库和几何结构模型库，保证强大数据分析能力。

QC5000测量软件,QC5000(2D)--主要应用于光学投影仪和视像测量仪的2D测量系统.QC5000测量软件QC5000(3D)--主要应用于视像测量仪和接触式三座标(CMM)的3D测量系统.QC5000(CNC) --主要应用于视像测量仪和接触式三座标的3D自动测量系统.

JGX-1工具显微镜是一种多用途的的光学机械式二维坐标精密测量仪器，该产品可广泛用于机械制造，纺织机械加工的检测；电子行业，集成线路线宽及其他精密零件的测试：冶金工业的矿石标本，应刷制版加工的检测；以及计量部门、大专院校、科研部门各类精密加工的测试使用等。

光学测量投影仪是光、机、电一体化的精密高效测量仪器，分反像与正像两种，广泛用干机械、仪表、电子、轻工等行业，院校、研究所以及计量检 定部门。本仪器能高效率地检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状，如样板、冲压件、凸轮螺纹、齿轮、成型铣刀等。仪器特点

0° C ～ 1800° C，OWI系列红外测温仪5 毫秒快速响应,*高300：1 的光学分辨率，多种不同焦距可选，*小可测量0.66mm 的目标，OWI系列红外测温仪是一款温度量程丰富的测温仪

Fidas是一款超细颗粒气溶胶粒径谱仪，用于测量颗粒尺寸和颗粒质量。除了具有Welas的产品特点以外，还具有以下特点： 1．仪器每秒给出PM2.5，PM4，PM10的测量数值。 2．为了对光学测量,的数据和重力法测定的数据进行比较，Fidas配置了滤膜，用于收集总颗粒，进行后续的称重或化学成分分析。 3．集成网络服务器，远程维护和调取数据； 4．触摸屏式显示和操作，实时显示测量数据； 5．

雷泰3I系列红外测温仪是一种超高性能的红外测温仪，光学分辨率*高可至180:1，可以测量远距离的小目标。更高的测量精度和测量范围：-30 ～3000°C。3i 系列测温仪还具有环境温度补偿功能，可以