用F37实时测量沉积率、沉积层厚度、光学常数（n和k值）和半导体以及电介质层的均匀性。 样品层： 可以测量平滑和半透明的，或者轻度吸收的薄膜。 这实际上包括那些使用在薄膜光伏产品内的任何半导体材料。

（厂家低价直销）显微硬度计HV-1000A该机自动转塔；无摩擦主轴，试验力精度高；高精度光学测量系统，精密坐标试台，中英文界面转换；试验过程自动化，操作简单，无人为操作误差；可选配努氏压头进行努,氏硬度试验，主要应用范围渗氮层、陶瓷、钢、有色金属；薄板、金属薄片、电镀层、微小试件；材料强度、热处理、碳化层、脱碳层和淬火硬化层的深度，适用于平行平面和微小零件及超薄零件的精密维氏测量。

用于测定原料、燃料、谷物、食品、茶叶等各种物质的游离水份。测量时将定量样品放置在仪器内部的天平秤盘上,打开天平和红外线加热装置。样品在红外线的直接辐射下，游离水份迅速蒸发，当试样物中的游离水份充分蒸发失重相对稳定后，即能通过仪器的光学投影读数窗，直接读出试样物质含水率的百分比。

2D光学影像测量仪VMS250 VMS系列是一款经济型2D光学影像测量仪，采用高清晰度3DFAMILY彩色CCD，并配有激光指示器，可**指示当前测量位置；采用我公司自主研发的OVM Lite版测量软件，具备基本的点、线、圆、两点,距离、角度等基本测量功能及坐标平移的功能，能满足基本的二次元测量需求；此外测量数据可输入EXCEL、WORD、TXT中或者将测量图形输出至DXF文档做CAD设计。

【公司名称】深圳市优科斯机电科技有限公司【产品型号】TX/MM/MR【产品简介】Marathon红外测温仪能在苛刻的过程中提供高精度的温度测量。Marathon MM集先进的光电设计，数字电路和直观,易用的按键操作界面于一体，将其组合在一坚固紧凑的不锈钢外壳内。传感头可以很容易地设置为标准单头支行模式或设置成一个多头网络模式。所有的Marathon MM系列探头具有是易于对问候语目标的光学瞄准

东莞快捷量具仪器有限公司批发万濠投影仪：CPJ系列数字元测量投影仪是光、机、电一体化的精密高校测量仪器。立式投影仪的工件影像可以是全正像也可以为倒像，测量简易直观，效率高。仪器光学质量优良，物镜成,清晰，放大倍率准确。在透射光照明下，轮廓测量误差小于0.08%。它广泛用于机械、仪表、电子、轻工等行业院校、研究所、计量检定部门。本仪器能高效率的检测各种形状复杂工件的轮廓尺寸和表面形状，如样板、冲压件、

工业视频电子内窥镜采用了*新的彩色CCD电荷耦合元件成像器件、光学物镜系统、通信等于一体的高科技精密仪器。配套冷光源采用了进口高亮度弧光灯或新型LED照明，其光谱与太阳光谱非常吻合，并采取机械调光,的方式，既保证了光源照度可调，又使得光源的色温保持不变，在环境光线较暗时，仍能准确地还原被测物的真实色彩。若外接图像处理软件或存储设备，可实现对图像的冻结、回放、放大、存储、测量等功能。

超大行程全自动光学影像测量仪是3DFAMILY又一**力作，产品拥有多项**设计，弥补了目前市场上销售各品牌大行程机型的多项缺陷。

此光学高温计是非接触式测量高温的仪表，当被测量的温度高於热电偶所能使用的范围，以及热电偶不可能装置或不适宜装置的场所，用光学高温计一般可以满足这个要求。它广泛地用来测量冶炼、浇铸、轧钢、玻璃熔窖,、锻打、热处理等温度，是冶金、化工和机械等工业生产过程中不可缺少的温度测量仪表之一. 　　产品说明：　　此光学高温计能在环境温度10-50℃,相对湿度不大於85%的情况下连续工作　　物镜与目标之间的距离不小

白度仪、白度测定仪、智能白度仪（KX-201）能白度测定仪利用积分球实现**光谱漫反射率的测量，其光学原理是使用半导体光源发出的兰色光线直接进入积分球，兰色光线在积分球内壁漫反射后，照射在测试口

▉双光学系统本系列使用了双光学系统，一种是无棱镜模式下的窄光束测量，以确保瞄准点正好是被测点。另一种是有棱镜模式下的宽光束测量，即使在热闪烁条件下，长距离测量时该光束仍很稳定，因此可提供精密测量

青岛民邦供应SF6红外气体成像检漏仪 VOC气体成像检漏仪是一款用于气体泄漏视频记录的红外光学成像仪，它具备很好的便携性，并使用电池供电。在可以对气体泄漏进行成像的基础上，该产品也可以对气体的浓度进行测量。

Thermo Fisher Scientific的MULTISKAN ASCENT为全世界的实验室提供了与众不同的可靠性。高品质的光学系统能确保得到可靠结果，且重复性和准确性都非常好。测量时*大吸光度值可达4。这样的测量能力减少了得到样品结果的时间，而且无需稀释样品。

特点: 1. 每秒 3200 次高速雷射扫描可实现自动生产线上的高效率测量。2. 测量单位的安装型结构可实现各种测量。 3. LSM-500S 专门为测量密线而设计。 4. 防尘 / 防水保护级符合 IP-64 。5. 各测量单元的光学特性属据可储存在被提供的 ID 单元。