它是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度

降落值测定仪/降落值检测仪 型号：HAD-FN-IV简单介绍:降落值测定仪原理是面粉、粗粒粉和全麦粉的悬浮液在沸水浴中被迅速糊化，因糊化物中α—淀粉酶活性的不同而使其中的淀粉不同程度的被液化，液化,程度不同，粘度搅拌器在糊化物中降落特定距离所需要的时间不同。因此，降落数值(FN)的高低也就表明了相应的α—淀粉酶活性的差异，降落数值(FN)高表明α—淀粉酶的活性低，

.根据符合新国家标准GB/T10361-2008《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》。仪器是按照伯格哈格－－坦恩降落数值法对谷物中α—淀粉酶活性指标进行测定的。研制生产的一种谷物...

降落数值测定仪(KX-211) 根据GB/T10361-2008 《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉 降落数值的测定 Hagberg-Perten法》新国家标准自主研制生产降落值测定仪。它是,测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物，尤其是小麦和小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的必备仪器

FN降落值测定仪是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物、尤其是小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的必备仪器。用户可根据实际需要选择降落值测定仪带打印和不带打印功能。

降落测定仪根据GB/T10361-2008《小麦、黑麦及其面粉，杜伦麦及其粗粒粉降落数值的测定Hagberg-Perten法》新国家标准我司研制生产了FN-Ⅱ型降落值测定仪。它是测定谷物中淀粉酶活性,的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物，尤其是小麦和小麦粉的测定，是粮食贮藏、面粉加工、食品加工等领域中进行质量检测的必备仪器。

FN降落值测定仪是测定谷物中淀粉酶活性的专用仪器，可准确判断谷物的发芽损伤程度，适用于谷物、尤其是小麦粉的测定。

方法原理：谷物粉（如小麦粉）的悬浮液在沸水浴中迅速糊化，并因其中α—淀粉酶活性的不同而使糊化物的淀粉不同程度的被液化，液化程度不同，搅拌器在糊化物中下降速度不同，降落值的高低也就表明了相应的α—淀粉酶活性的差异。