OLYMPUS MX61L 16寸半导体检测显微镜300 mm/200 mm半导体检查显微镜通过各种观察方法--明视场法、暗视场法、微分干涉法（DIC）、荧光法、红外线法和深紫外线法，**的光学系统保证了**的图像分辨率和鲜明度。OLYMPUS MX61L 16寸半导体检测显微镜

倒置金相显微镜(德国莱卡LEICA)DMI 5000M可倾斜目镜筒，宽视野目镜，操作观察舒适，倒置金相显微镜(德国莱卡LEICA)DMI 5000M明场，暗场，偏光，微分干涉，相衬，研究型倒置金相显微镜，德国莱卡倒置金相显微镜，LEICA金相显微镜摄影装置，莱卡金相显微镜数码相机

BX51金相显微镜 透反两用研究系统显微镜，涵盖所有观察方式新的光路设计， 12V100W 光源明场，暗场，偏光，微分干涉相衬，荧光观察方式可选 可连接多种胶片或数字照相系统·使用万能物镜实现明场、暗场、荧光、微分干涉,、偏光的各种观察·出类拔萃的明视野显微镜图像质量·**的荧光观察功能， 100W 汞灯的有效光强比原来增加一倍·解像度和对比度鲜明的诺曼斯基微分干涉衬比法观察·放大倍率 50×～1000×·高刚性的

XTL302-DIC微分干涉相衬金相显微镜XTL302-DIC微分干涉相衬金相显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察

的部件设计，可对系统功能进行自由组合。集成了明场、斜照明、偏光、DIC微分干涉等多种观察功能，可根据实际应用，进行功能选择。SOPTOP正置金相显微镜MX4R/MX6R可以实现X、Y方向,SOPTOP正置金相显微镜MX系列正置金相显微镜灵活的系统组合、**的成像性能、稳定的系统结构，MX4R系列专业应用于工业检测及金相分析领域各操作机构根据人机工程学设计，*大限度减轻使用疲劳。模块化,158mmx158mm的移动范围全新设计的长工作距专业金相物镜，高倍物镜采用半复消技术各种观察方法下都能得到清晰锐利与高对比度的显微图像附件齐全，配置完善，可灵活进行系统组合与功能拓展人机工程学设计、坚实可靠的系统结构

小尺寸液晶检查显微镜DIC-1000主要适合中小尺寸手机LCD屏幕的微分干涉检查，主要用于液晶屏检查，COG检查，LCD检查，导电粒子排列检查，粒子爆破观察

JX-4400微分干涉显微镜 JX-4400微分干涉显微镜1）JX-4400为*新型FPD检查显微镜，专为LCD行业 / TFT玻璃 / COG导电粒子压痕、粒子爆破检查 2）JX-4400机型采用4寸、6寸平台设计，可适用于相应尺寸的晶圆或小尺寸样品的金相检查 3）JX-4400，其微分干涉效果可与进口品牌相媲美

XTL3230-DIC微分干涉相衬金相显微镜XTL3230-DIC微分干涉相衬金相显微镜适用于对多种物体的显微观察。配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点.

TMV302DIC微分干涉相衬显微镜适用于对多种物体的显微观察，配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

微分干涉显微镜 微分干涉显微镜微分干涉显微镜微分干涉显微镜微分干涉显微镜

时代TMV302DIC微分干涉相衬显微镜 配置落射DIC观察系统与透射照明系统、无限远长距平场消色差物镜、大视野目镜和偏光观察装置，具有图像立体感且清晰、造型美观，操作方便等特点，是生物学、金属学、矿物学、精密工程学、电子学等研究的理想仪器。

微分干涉数码显微镜RWDIC8000是一款性价比非常高的检测用光学仪器。微分干涉数码显微镜双目摄影观察头，体现了目视观察的真实还原，以及数码摄影与显微成像的技术融合，观察到的干涉图像具有更强的立体感.