X-MET8000S 了牛津仪器工业分析部门，牛津手持光谱仪品牌正式更名为日立仪器HITACHI。手持式XRF荧光光谱仪X-MET8000S型是一款为客户量身定做的X射线的荧光光谱仪。它集速度，准确，坚固和易用为一体，加上硬件，软件的多年行业经验，满足你对检测的所有要求。,手持式XRF荧光光谱仪/手持式合金成分分析仪/元素含量检测仪X-MET8000S由Oxford Instruments下属的工业产品分公司研究、设计和制造，世界500强日立公司于2017年7月收购

美国伊诺斯Innov-X小型台式X射线衍射仪 XRD-BTX是一款小型台式X射线衍射（XRD）和X射线荧光（XRF）分析仪，由美国伊诺斯公司（Innov-X）开发生产．作为美国宇航局火星基础地质考察专用设备，颠覆了传统大型台式机XRD的基本构造，具有独特的技术特点和使用特点。

EDX6000B X荧光光谱仪是08年推出的一款全新的全元素分析仪器,专注于水泥、钢铁、有色金属、矿料分析及RoHS检测等。X射线发生器性能良好，指标达到******。仪器测试结果符合国家标准，性能价格比高。专为冶金、建材行业设计。

S1 TURBO合金分析仪是Bruker公司推出的新一代产品，是迄今为止灵敏度和精度*高的仪器。它**次把应用于大型台式X射线荧光手持式合金分析仪器的SDD探测器应用于手持式仪器中，大幅度提高了,灵敏度和精度。S1 TURBO合金分析仪的问世，确保了工业生产的**和产品的质量。成为目前世界同类仪器中分析速度*快，分析范围*广的设备。

采用能量色散X荧光分析技术（EDXRF），实现多种元素同时测量。采用多种措施优化光路设计和配置，保证了特征X射线的探测效率。采用50W侧窗X射线管，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。

ARTAX系列微区X射线荧光光谱仪 主要技术特点： 对材料的结构和组成进行非破坏性的微区多元素分析，分析元素范围11Na-92U，空间分辨率达到70微米。 第四代XFlashSDD硅漂移探测器，采用帕尔贴冷却技术， 不需要液氮，没有,任何消耗。分辨率优于165eV at MnKa 100Kcps。优于145eV分辨率探测器可选。 灵活的设计，样品检验时可以不受空间、样品尺寸限制。X-Y-Z 三维自动定位跟踪样品台，防碰撞保护，可以自

材料分析－FISCHERSCOPE? GOLDLINE ASSAY X射线荧光法是高效的材料分析工具。它广泛应用于镀层厚度测量，同时也适于进行元素分析。是能量分散的高性能X射线荧光光谱仪，它可,以对未知材料进行简单，快速而**的分析。如果与应用工具箱Gold Assay组合在一起，可以对珠宝和贵金属领域快速、无损和**测量金含量的理想设备。

X荧光光谱仪|重金属检测仪|ROHS检测仪/重金属检测仪/ROHS检测仪/ROHS测试仪/重金属检测仪/ROHS检测仪X荧光光谱仪|重金属检测仪 BX-200S小型多道X射线荧光光谱仪是采用波长,色散技术的多种元素同时**定量的分析 仪器。仪器可配置10个固定分光道，可同时分析10种元素。根据用户的应用要求可配置为从NA 到U 的任意10种元素。

台式小焦点X射线荧光光谱仪-SPECTRO MIDEX M仅是生产过程中理想的分析仪器，也适合各种科学研究和实验室分析，它可以分析体积很小的样品、研究材料组成，测定样品表面的元素成分等。

矿石分析 偏振X射线荧光光谱仪 炉渣分析 偏振X射线荧光光谱仪 烟气分析 偏振X射线荧光光谱仪 原材料分析 偏振X射线荧光光谱仪 涂层分析 偏振X射线荧光光谱仪、直读光谱仪, 废液/废料分析 等离子体光谱仪（ICP） 非常规金属分析 等离子体光谱仪 废渣分析 便携式/移动光谱仪 成品质量控制分析 便携式/移动式光谱仪

X-MET5000 牛津仪器宣布推出一款坚固的X-MET5000 手持式元素分析仪，该仪器能够进行高精度、高可靠性的元素分析。牛津仪器的手持式X射线荧光光谱仪誉满全球，X-MET5000是其第四代产品。

测厚仪成为紧固件行业应用的理想工具。采用基于相位电涡流技术，日立分析仪器CMI243螺栓紧固件测厚仪以友好的控制和可以与X射线荧光测厚仪媲美的准确、精密的测量而著称。,日立分析仪器CMI243螺栓紧固件测厚仪是一款灵便易用的仪器，专为金属表面处理者设计，配置的单探头可测量铁质底材上几乎所有金属镀层。在极小的、形状特殊的或表面粗糙的样品上进行测量的能力，使这款镀层

产品简介：该仪器是X射线荧光光谱分析仪专用熔样设备（玻璃熔融法），通过底部均匀电加热和仿真人性化的机械运动使试样在液态下全方位流动、静置、反向旋转、摇摆、倾斜等全自动组合，消除试样粒度、矿物的偏析等不均匀效应，同时也可降低样品元素间的吸收和增强效应，可明显提高分析方法的精度的准确度。

扫描型X射线荧光光谱仪LAB CENTER XRF-1800可进行固体、粉未、液体等多种样品的定性分析和无需工作曲线的FP法定量分析。在成熟的硬件上又增加了新开发的利用高次线进行的定性定量法、250m m绘图功能等，进一步提高了可靠性，充实了应用。

X-Strata920 深圳市方源仪器有限公司—英国牛津仪器指定中国总代理商!英国牛津仪器台式X射线荧光测厚分析仪X-Strata920 是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。利用X射线荧光（XRF,）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。英国牛津仪器台式X射线荧光测厚分析仪X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出**的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。