。测定原理：全反射X射线荧光分析法，针对基座表面全反射临界角以下角度照射，不侵入试验基板之内，不会造成基板内部X射线散乱发射的情况，因此可以进行极微量级别的分析。规格测定原理全反射X射线荧光分,特点：搭载SDD检测输出装置、本体重量8kg、可以分析ppb精度、不需要液氮和冷却水用途：检测井水、河水、污水；分析土壤、玩具的溶出水；食品、医药学、鉴定领域的现场分析；毛发、大气悬浮颗粒的成分分析

XF-8100可以应用于水泥 、济 、高性能的波长色散X射线光谱仪。波长色散X射线荧光光谱仪采用固定通道，减少测量时间；固定通道尤其的轻元素和微量元素的测定，以提高分析精度和灵敏度。波长色散X射线,荧光光谱仪采用用户习惯，操作方便的智能化软件，提供全自动分析操作，实现快速量分析。不需要接外部循环冷却系统。

重金属的X荧光的光谱存在**性，根据重金属受X射线激发后产生荧光光谱的吸收峰位置和吸收强度，就可进行重金属含量的定性区分和和定量分析,根据量子力学原理，当原子受到外来X射线的照射时，内层电子会吸收能量而被激发，外层电子会跃迁至内层，在电子跃迁的过程中，由于能量的必散，产生荧光。每种重金属原子的电子在跃迁时所发散的能量都不相同，不同

合金分析仪DP2000 美国伊诺斯(Innov-X System)公司位于美国波士顿，美国纽约证券交易所上市企业，是全球*专业的微型X荧光光谱技术研发商，生产的Innov-X OMEGA系列、Alpha系列便携式X射线萤光光谱分析,仪占据欧美手提式X荧光分析仪70%的市场份额。伊诺斯是全球**通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光光谱技术分析仪器的生产厂商，同时通过了NATO AQAPI标准。(该标准为北大西洋公约组

X-MET5000 --快速、可靠地进行RoHS筛 选分析X-MET5000仅需使用一台仪器便可实现对所有材料的筛选分析此简单易用的手持式能量色散型X射线荧光光谱仪可以为塑料、印制线路板、电缆、塑料外壳、焊料、紧固件,、金属薄片和其它电子元器件提供快速、无损、”对准即测”的筛选分析.X-MET5000采用IEC62321标准中所规定的测试方法, 能够非常便捷有效地检测样品中的相关受限物质的含量是否能满足RoHS指令的相

RoHs Validator能量色散型X射线荧光分析仪 高灵敏度高精度测定有害物质　　第三代美国善思科技（国际） X射线荧光分析仪EDX7618，采用世界上*先进的硅SIPIN探测器（分辨率为,150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，*大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提

Lab-X3500 Lab-X3500中采用了独特的FOCUS 5**技术，实现了对目标元素的*佳激发和目标元素的选择性检测；因而，与同类型仪器相比，Lab-X3500具有更低的检出下限和更高的分析精度，同时具有,样品处理简化、容易操作等优点。Lab-X3500 即可独立操作使用，又能与电脑相联。新的软件可以显示光谱，可以显示质控检查的曲线图并能保存校准资料。

日本岛津 shimadzu EDX-LE 能量色散型X射线荧光分析仪是一款专用于RoHS/ELV/法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧光分析装置。 配备无需液氮型电子制冷（Si-PIN检测器）检测器，因此在实现降低运作成本和更易维护的同时，以维持高可信性分析和进一步提高操作性达到自动化分析为目标。

FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特

XEPOS型偏振X射线荧光光谱仪可广泛应用于各种电子材料及塑料中铅、镉、（汞）等元素分析，检出下限低，灵敏度高、稳定性好，可应对欧洲WEEE、RoHS指令。

X射线荧光分析仪EDX-GP是*适合用于RoHS/ELV/无卤素法规限制的有害元素筛选分析的X射线荧X射线荧光分析装置EDX-GP光分析装置。 　　**次使用EDX-GP，也能轻松操作，操作简便且,以更高的精度进行微量分析，达到*高灵敏度与*佳分辨率的**结合。 　　EDX-GP标准配置RoHS/ELV/无卤素分析所需的所有必要功能，用户无需购买特殊选购件，使可以获得*佳RoHS/ELV/无