茂迪4070D MIC-4070D 4070D
产品简介
茂迪4070D 手持LCR数字电桥,3 1/2位,电感0.1μH~200H,电容0.1pF~20000μF,电阻1mΩ~20MΩ,耗损因数测试,精度1%,频率1KHz。标配一副测试夹,SMD测试夹TL-06是选配。 MIC-4070D 4070D
产品详细信息
产品简介
手持LCR数字电桥茂迪4070D,3 1/2位,电感0.1μH~200H,电容0.1pF~20000μF,电阻1mΩ~20MΩ,耗损因数测试,精度1%,频率1KHz。
性能特点
n 电感测量范围:0.1μH—200H
n 电容测量范围:0.1pF--20000μF
n 电阻测量范围:1mΩ--20MΩ
n 损耗因子测量
n 零点调节
n 响应速度快
技术指标
茂迪4070D测量范围和精度
电容量
范围 | 精度 | 分辨率 | 测试条件 |
200pf | 1%+2 | 0.1pf | 并联1KHz, 0.5Vrms |
2nf | 1pf | ||
20nf | 10pf | ||
200nf | 100pf | ||
2μf | 1000pf | ||
20μf | 0.01μf | 串联120Hz, 1mArms | |
200μf | 0.1mf | 串联120Hz, 10mVrms | |
2mf | 2%+10 | 1μf | |
20mf | 10μf |
损耗因子
范围 | 精度 | |||
0~1.999 | 2000pf | 2nf≤Cx≤2μ | μ | 20mf |
N.S | 1%+10+2000 CX | 2%+20+2000 Cx | N.S |
Cx:电容量读数
精度测量条件:电容从满刻度的20%到100%,在串联模式下的精度测
精度测量条件:电容从满刻度的20%到100%,在串联模式下的精度测
电感
测量范围 | 精度 | 分辨率 | 测试条件 | |
200μH | 2%+2 | 0.1μH | 串联 | 10mArms,1kHz |
2mH | 1%+2 | 1μH | 10mArms,1kHz | |
20mH | 10μH | 1mArms,1kHz | ||
200mH | 100μH | 0.1mArms,1kHz | ||
2H | 2%+2 | 1mH | 并联120Hz, 0.5Vrms | |
20H | 10 mH | |||
200H | 3%+2 | 100 mH |
精度测量条件:电感从满刻度的10%到100%,在并联模式下的精度测
损耗因子
测量范围 | 精度 | |
0~1.999 | Lx≤200 mH | 200 mH<200H |
1%+10+2000 Cx | 2%+20+2000 Lx |
Cx:电感读数
精度测量条件:电感从满刻度的20%到100%,在并联模式下的精度测量
精度测量条件:电感从满刻度的20%到100%,在并联模式下的精度测量
电阻
测量范围内 | 精度 | 分辨率 | 测试条件 | |
2Ω | 1%+5 | 1mΩ | 串联1KHz | 10mArms |
20Ω | 10mΩ | 10mArms | ||
200Ω | 1%+2 | 100mΩ | 1mArms | |
2kΩ | 1Ω | 0.1mArms | ||
20kΩ | 10Ω | 10μArms | ||
200kΩ | 100Ω | 1μArms | ||
2mΩ | 2%+2 | 1kΩ | 并联1KHz,0.5Vrms | |
20mΩ | 10kΩ |
精度:读数%+位数;
精度测量条件:电阻从满刻度的10%到100%,在并联模式下的精度测量
可选配件:SMD测试夹TL-06
本页面标题: 茂迪4070D MIC-4070D 4070D