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产品资料

美国Axometrics艾克松穆勒矩阵旋光仪AxoScan(R0、Rth 和 Beta)

美国Axometrics艾克松穆勒矩阵旋光仪AxoScan(R0、Rth 和 Beta)
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:美国Axometrics艾克松穆勒矩阵旋光仪AxoScan(R0、Rth 和 Beta)
  • 产品型号:OPMF-1
  • 产品展商:美国Axometrics艾克松
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简单介绍
AxoScan 在 30 毫秒内同时测量样品所有可能的偏振特性。各种特定于应用的分析软件为几乎所有偏振相关设备或行业提供易于理解的数据。
产品描述

轴扫描™

穆勒矩阵旋光仪

AxoScan 在 30 毫秒内同时测量样品所有可能的偏振特性。各种特定于应用的分析软件为几乎所有偏振相关设备或行业提供易于理解的数据。

概述

AxoScan 是行业**的样品偏振特性测量系统。凭借其****的速度、精度和准确度,AxoScan 被世界各地的偏光膜、延迟膜和液晶显示器制造商以及这些产品的许多*终用户所使用。
AxoScan 可测量 所有可能的偏振特性 (完整的穆勒矩阵),并在30 毫秒内报告样品的所有关键偏振参数(偏振器特性、延迟器特性、去偏振特性)  。
测量���单个位置进行,通常在直径为 1.5 毫米或 3 毫米的光束中进行。如果需要测量明显较小的特征,请考虑使用 AxoStep 成像旋光计。


“穆勒矩阵”的优势

与仅测量偏振参数的特定子集的“部分”或“不完整”偏振计不同,AxoScan 和 AxoStep 均测量完整的穆勒矩阵。 Mueller 矩阵的 16 个元素包含样本的所有可能的偏振属性。当您的实际样本不符合测量系统所做的假设时,这一点极其重要。
举例来说,如果任何层彼此不完全对准,则测量延迟器的堆叠层将产生“椭圆延迟”。设计用于测量“线性延迟”或“双折射”的系统将无法看到这种未对准的影响,并会给出错误的结果。但穆勒矩阵不会被愚弄,AxoScan 将给出正确的测量结果。
我们易于使用的软件会自动将 Mueller 矩阵转换为有意义的透射率、偏振片特性(衰减和偏振)、延迟和消偏振参数。 Axometrics 还为众多行业提供各种特定应用软件。
随着新应用程序的出现,您无需担心过时。由于 Mueller 矩阵已经包含所有可能的偏振属性,因此新应用只需为现有测量系统安装新的分析软件即可。
如果您的产品依赖于光学偏振,我们可能已经为您的应用提供了分析软件。请联系我们了解详情。


应用领域

由于 Mueller 矩阵包含样本的所有可能的偏振属性,因此 AxoScan 应用程序太多,无法列出。下面的列表重点介绍了一些*常见的应用程序,但请务必访问我们的应用程序页面以获取更多信息。
如果您没有看到您的应用程序列出,请随时联系我们讨论您的测量要求。如果测量涉及偏振,我们可能已经帮助某人进行了类似的测量。
偏光片特性
准确测量偏光片的偏光轴角度和偏光效率(衰减量)。确定输出状态是线性、圆形还是介于两者之间的某种椭圆形状态。还要判断输入和输出状态是否相同。在一些应用中,延迟膜被层压到偏振器膜上以进行视场补偿或用于创建圆偏振器。我们的多层分析软件可用于确定各个层的属性。
缓速器特性
准确测量延迟器快轴角和延迟幅度。还要确定传播*快的状态是线性、圆形(旋光)还是椭圆形。将延迟测量为倾斜角的函数,可以计算面外延迟 (Rth) 和指示体倾斜角 (β),并表征 c 板。
液晶参数测试
同时测量任意模式液晶的盒间隙、上下配向方向、扭曲角、上下预倾角。测量可应用于测试电池、商业面板或聚合薄膜。
广义椭偏仪
测量反射样品可提供计算薄膜折射率和厚度所需的数据(ψ 和 Δ)。由于 AxoScan 测量完整的穆勒矩阵,因此测量不限于各向同性薄膜。可以毫无困难地测量单轴和双轴各向异性薄膜和基材。
应力引起的双折射
AxoScan 可以准确测量低于 0.1 nm 的延迟水平。测量样品的延迟和快轴方向的 XY 图揭示了应力引起的双折射图案。 AxoScan 广泛用于测试注塑塑料光学器件和厚玻璃光学器件以揭示这种现象。
生物样本
对齐的胶原纤维产生显着水平的线性延迟。 AxoScan 用于选择用于制造心脏瓣膜的组织,以确保纤维排列与瓣膜几何形状正确对齐。
反射设备
VRTF 夹具允许以透射或反射方式测试样品。 AxoScan 广泛用于测试反射型设备,例如 LCOS 成像仪、透反式 LCD 面板、胆甾型滤光片和光回收薄膜。
偏振光线追踪
Mueller 矩阵的一大优势是它能够用于偏振光线追踪模拟。使用测量的复杂样本的穆勒矩阵,可以预测该样本将如何改变任何输入偏振态。例如,我们的软件可以预测样本放置在任意两个线性、椭圆或圆形偏振器之间时的外观。我们的测量数据文件可以导入多个第三方镜头设计、偏振光线追踪和液晶设计软件包。

型号

MMSP可见光
波长范围:   400 - 1000 纳米
探测器类型: 硅光电二极管

 

基质金属蛋白酶
波长范围:   380 - 700 纳米
探测器类型: 光电倍增管

 

近红外光谱
波长范围:   1250 - 1600 纳米
探测器类型: InGaAs光电二极管


OPMF - 面外测量夹具

OPMF-1 在世界各地的研发和质量控制实验室中使用,是 AxoScan *常见的安装夹具。 OPMF 自动倾斜和旋转样品,以测量作为视场函数的偏振特性。多入射角测量对于许多应用至关重要:

  • 用于视场 (FOV) 分析的极角和方位角图
  • 行业标准面外延迟参数(R0、Rth 和 Beta)
  • 透射样品的相对 3D 折射率椭圆
  • 光晶体 (LC) 显示器和薄膜的预倾斜测量
  • 垂直排列液晶的盒间隙测量

OPMF-1的倾斜角(极角)范围为-55°至+55°,旋转角(方位角)连续0°至360°

OPMF-2 将*大倾斜角度扩展至 75°。这种扩展的倾斜范围通常适用于视场研究的研发应用。

XY200 - 电动 XY 扫描台

XY200 夹具可自动执行*大 200mm 见方的样品的 XY 图,并包含用于分析测量偏振属性图的软件。随附的 XYViewer 软件具有以下功能:

  • 统计分析样本的分布
  • 横截面图
  • 屏蔽超出范围的像素
  • 数据导出到电子表格
  • 用户为通过/不通过应用设置分级颜色表以进行质量控制

VRTF - 传输和反射夹具

VRTF-1 可以在传输和反射模式之间自动重新配置,从而实现非常广泛的应用。反射倾斜角度为 15° 至 90°,透射倾斜角度为 -45° 至 45°。 MSRS 选件可实现样品的 360° 全方位旋转,可选的 XY50 载物台可绘制*大 50 mm x 50 mm 区域的 XY 图。

VRTF 是我们*灵活的夹具,可在偏振测量和椭圆偏振测量中广泛应用:

  • 用于视场 (FOV) 分析的极角和方位角图
  • 行业标准面外延迟参数(R0、Rth 和 Beta)
  • 透射样品的相对 3D 折射率椭圆
  • 光晶体 (LC) 显示器和薄膜的预倾斜测量
  • 垂直排列液晶的盒间隙测量
  • XY 地图和横截面线扫描可达 50 毫米(透射或反射)
  • 折射率测量
  • 薄膜厚度测量
  • LCOS 和反射式显示器测试

FSVM - 独立式垂直安装

FSVM 是一种简单的安装夹具,用于测量法向入射透射样品。该夹具包括一个可调节的参考边缘,用于重复设置样品方向。

OBHM  - 光学工作台水平安装座

光学工作台水平安装座适合希望将 AxoScan 安装在光学工作台上的研究人员。这为许多研发应用提供了*大的灵活性。



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