电子测试仪器

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深圳市君达时代仪器有限公司
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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	美国贝尔5280便携式高斯计	美国贝尔5280便携式高斯计F.W.BELL 5270特斯拉计场强仪漏磁检测磁场5180代表了磁性测量设备的新设计。该设计采用了数字信号处理技术。F.W.Bell的动态探头校正允许测量0至30 kg，基本精度为1%。
	DLY-2型导电类型测试仪	DLY-2型导电类型测试仪采用温差电法(也称冷热探笔法)和整流法来判断单晶硅的导电类型的新一代专用测试仪器.特别采用了平面轻触式开关设计;可随机调零;各种工作状态LED指示;自动加热,恒温;以及大型LED数码管直接显示单晶(或多晶)的导电类型(N型或P型).具有体积小、重量轻、性能稳定、测试简便、准确可靠等优点。
	WDY-4四探针测试仪	WDY-4四探针测试仪测量范围：电阻率：0.00001～100000 Ω.cm(可扩展)；方块电阻：0.0001～1000000 Ω/□(可扩展)；电导率：0.00001～100000 s/cm；电阻：0.00001～100000 Ω；
	泰克Tektronix TIVP系列IsoVu光隔离探头	泰克Tektronix TIVP系列IsoVu光隔离探头，IsoVu 技术采用光纤供电和光模拟信号路径，以在测量系统和 DUT 之间实现完全的电隔离。由于支持探头在共模电压下独立浮动，隔离可大大降低共模干扰。
	MDV530单晶少子寿命测试仪	MDV530单晶少子寿命测试仪寿命测试范围：5~7000μSμs；电阻率测量范围：ρ>2Ω·cm 2. 测量重复性误差≤±20
	WQ4851A半导体参数测试仪	WQ4851A半导体参数测试仪适用范围：适用于各种半导体二极管、三极管、结型场效应管JFET、MOS场效应管MOSFET、绝缘栅双极晶体管IGBT、可控硅、光耦、三端稳压器及压敏电阻等器件的测试。
	WQ4850A半导体参数测试仪	WQ4850A半导体参数测试仪适用范围：适用于各种半导体二极管、三极管、结型场效应管JFET、MOS场效应管MOSFET、绝缘栅双极晶体管IGBT、可控硅、光耦、三端稳压器及压敏电阻等器件的测试。
	WQ4835大功率数字存储图示仪	WQ4835大功率数字存储图示仪大功率：大集电极电流200A，数字存储：本机可以存储10幅图形，也可以通过USB接口无限量存储至电脑。可以保存为特定文件格式，也可以保存为JPG、BMP等图片格式。保存在电脑上的数据可以通过打印机打印图片也可以通过USB接口下载至仪器。
	WQ4828A数字存储晶体管特性图示仪WQ4829A	WQ4828A数字存储晶体管特性图示仪WQ4829A显示界面640×480 TFT彩色液晶显示器，友好的人机界面。同步显示：高速USB通信可以在测试器件的同时将图形同步显示在电脑屏幕上，使显示界面大小得到了无限的扩展。
	WQ4830A数字存储晶体管特性图示仪	WQ4830A数字存储晶体管特性图示仪数字存储：本机可以存储10幅图形，也可以通过USB接口无限量存储至电脑。可以保存为特定文件格式，也可以保存为JPG、BMP等图片格式。保存在电脑上的数据可以通过打印机打印图片也可以通过USB接口下载至仪器
	吉时利Keithley 2460触摸屏数字源表	吉时利Keithley 2460触摸屏数字源表，利用吉时利2450或2460型触摸屏数字源表，实现可充电电池的充电/放电（贾法尼）电池循环，为了改进或取代现有电池技术，研究人员正在研究延长电池寿命同时降低充电电池成本的方法。常见的可充电电池种类包括锂离子电池、镍氢电池和镍镉电池
	Keithley 2450数字源表IV曲线追踪仪软件	Keithley 2450数字源表IV曲线追踪仪软件尽管工程师可以使用IV曲线追踪仪执行二极管的失效分析和参数检定，但需要更先进的IV曲线追踪仪配置，即参数曲线追踪仪，来测试MOSFET、IGBT 和其他高功率器件
	Keithley 2400数字源表图形化系列SMU仪器	Keithley 2400数字源表图形化系列SMU仪器在 2400 系列图形化 SMU 上安装 I-V 记录器软件，在功能上替换 Tektronix 576 或 370 等传统波形记录器。无需配置扫描或连接到其他软件，即可快速探寻两端器件的特征。
	DMM7510集高精度高分辨率数字万用表	泰克Tektronix DMM7510集高精度高分辨率数字万用表图形触摸屏显示器和高速、高分辨率数字化器于一身，是一款图形采样万用表。其具有 pA 灵敏度和 1M 个样点/秒的采样率，能准确测量超低睡眠模式电流和传输无线设备的漏电流。
	CXT2683A系列绝缘电阻测试仪CXT2683B	CXT2683A系列绝缘电阻测试仪CXT2683B集绝缘电阻测试仪、皮安计、数字电位计、数字高压源表四合一的专业仪器。本仪器可输出0.5V-1000V之间任意电压，满足各种测试电压要求，具有电压回读功能，七量程测试，使绝缘电阻测量范围可达：10KΩ-10TΩ，*大显示位数9999数。仪器拥有分选功能，分选讯响设置，还可配备Handler接口，
	CXT2685超高阻测试仪CXT2687	CXT2685超高阻测试仪CXT2687是集绝缘电阻测试仪、皮安计、数字电位计、数字高压源表四合一的专业仪器。本仪器可输出0.5V-1000V之间任意电压，满足各种测试电压要求，具有电压回读功能，七量程测试，使绝缘电阻测量范围可达：10KΩ-100PΩ，
	CXT2661型四探针方块电阻测试仪	CXT2661型四探针方块电阻测试仪同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.本仪器是一款低功耗手持式仪器，适用于片状或块状半导体材料的径向和轴向电阻率及扩散层的薄层电阻率测试、太阳能等材料的测试，配置不同的测试探头，可以测量柔性材料导电薄膜
	CXT2668系列四探针测试仪CXT2667	CXT2668系列四探针测试仪CXT2667是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻及其它各种材料)的专用仪器
	CXT2665系列四探针方块电阻测试仪	CXT2665系列四探针方块电阻测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。仪器运用双电测原理，进行多次测量，自动消减样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测相比，大大提高测量精度和一致性
	CXT2663系列四探针方块电阻测试仪	CXT2663系列四探针方块电阻测试仪是运用四探针测量原理的多用途宽量程综合测量设备, 同时也是电阻率测试仪、电导率测试仪.该仪器是按照单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准而设计的，可用于测试半导体及其他各种材料电阻率及方块电阻的专用仪器。
	CXT5510电线电缆导体电阻率测试仪	CXT5510电线电缆导体电阻率测试仪是一款针对超低直流电阻测试专门设计开发的一款高精度测试仪，界面清爽、操作便捷；量程范围为：0.01uΩ~10MΩ；显示位数为五位半；自动双向电流测试
	CXT3513电机电阻不平衡度测试仪	CXT3513电机电阻不平衡度测试仪是一款用于测量三相电机电阻不平衡度、极差的高精度测试仪. 其0.05%的基本精度、10uΩ的*小分辨率可以满足大部分三相电机的电阻测试需求.本仪器还可同时显示三相电机的端电阻与相电阻,方便用户对电机的不平衡度/极差等参数进行评估测试与分选.
	CXT5511电线电缆导体电阻率测试仪	CXT5511电线电缆导体电阻率测试仪是一款针对超低直流电阻测试专门设计开发的一款高精度测试仪，界面清爽、操作便捷；量程范围为：0.1uΩ~2MΩ；显示位数为五位半；自动双向电流测试
	CXT5013系列体积表面电阻率测试仪	CXT5013系列体积表面电阻率测试仪，同时也可作为超高阻计或微电流测试仪使用。是运用环形三电极法原理测量固体、液体绝缘材料体积电阻率和表面电阻率的多用途综合测量装置，电阻测试范围10KΩ～10TΩ;
	英国比克 Pico 3000E系列示波器	英国比克 Pico 3000E系列示波器系列提供业界的2GS捕获存储器，可用于以5GS/s的速度进行采样降至20ms/div（总捕获时间200ms）。或者，存储器可以被分割成多个段，以将数千个波形快速连续地捕获到波形缓冲器中
	固纬电子GSP-930频谱分析仪	固纬电子GSP-930频谱分析仪，GSP-930频谱分析仪频率范围: 9kHz ~ 3GHz - GSP-930频谱分析仪高频率稳定度: 25ppb (0.025ppm)，RBW: 10Hz ~ 10kHz 1-3步进, 10kHz ~ 1MHz 10% 可调步进，相位噪声: -88dBc/Hz @1GHz, 10kHz Offset
	固纬电子GSP-827频谱分析仪	固纬电子GSP-827频谱分析仪，固纬电子GSP-827频谱分析仪是一款在射频测量应用中使用非常方便的仪器，它拥有极易操作的设计和极高的性价比，还有非常便捷的可携包。GSP-827覆盖了 9kHz~2.7GHz的频带，专门为射频产品的生产/开发测试需求和无线通讯系统的现场维护/升级而设计的
	固纬电子GSP-830频谱分析仪	固纬电子GSP-830频谱分析仪，固纬电子所推出的3GHz频谱分析仪GSP-830是扫瞄式频谱分析仪中具有高性能、低准位、易于操作和便于携带等多项优点的分析仪器，能够在高频与通讯应用上，提供学术研究、教育训练、电子组件设计与生产系统，以及自动化测试中*专业的有效解决方案

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