TT230氧化膜测厚仪是一种超小型测量仪，TT230氧化膜测厚仪能快速、无损伤、精密地进行非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量。TT230氧化膜测厚仪可广泛用于制造业、金属加工业、化工业、商检等检测领域。由于TT230氧化膜测厚仪体积小、测头与仪器一体化，特别适用于工程现场测量。 TT230氧化膜测厚仪符合以下标准： GB/T 4957─1985 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 JB/T 8393─1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪 JJG 818─93 《电涡流式测厚仪》
TT230氧化膜测厚仪采用了涡流测厚法，可无损伤地测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度（如铜、铝、锌、锡等基底上的珐琅、橡胶、油漆镀层） 可进行零点校准及二点校准，并可用基本校准法对测头的系统误差进行修正； 具有两种测量方式：连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）； 具有两种工作方式：直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl) 具有删除功能：对测量中出现的单个可疑数据进行删除，也可删除存贮区内的所有数据，以便进行新的测量； 设有五个统计量：平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、 测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）； 具有米、英制转换功能； 具有打印功能，可打印测量值、统计值； 具有欠压指示功能； 操作过程有蜂鸣声提示； 具有错误提示功能； 具有自动关机功能。
测头类型
N
测量原理
电涡流
测量范围
0-1250um/0-40um(铜上镀铬)
低限分辨力
1µm(10um以下为0.1um)
探头连接方式
一体化
示值误差
一点校准(um)
±[3%H+1.5]
两点校准(um)
±[（1%~3%）H+1.5]
测量条件
*小曲率半径(mm)
凸3 凹10
基体*小面积的直径(mm)
ф5
*小临界厚度(mm)
0.3
温湿度
0~40℃ 20%RH～90%RH
统计功能
平均值（MEAN）、*大值（MAX）、*小值（MIN）、 测试次数（NO．）、标准偏差（S．DEV）
工作方式
直接方式(DIRECT)和成组方式(Appl)
测量方式
连续测量方式（CONTINUE）和单次测量方式（SINGLE）
上下限设置
无
存储能力
15 个测量值
打印/连接计算机
可选配打印机/不能连接电脑
关机方式
自动
电源
二节3.6V镍镉电池
外形尺寸
150×55.5×23mm
重量
150g
主机 标准片一套（50um 100um 200um 500um 1000um） 铝基体 充电器
粤公网安备 44030402001250号