X-MET5000 --快速、可靠地进行RoHS筛 选分析X-MET5000仅需使用一台仪器便可实现对所有材料的筛选分析此简单易用的手持式能量色散型X射线荧光光谱仪可以为塑料、印制线路板、电缆、塑料外壳、焊料、紧固件,、金属薄片和其它电子元器件提供快速、无损、”对准即测”的筛选分析.X-MET5000采用IEC62321标准中所规定的测试方法, 能够非常便捷有效地检测样品中的相关受限物质的含量是否能满足RoHS指令的相

XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪元素测定范围Na-U，含量范围1ppm-100%一次可以同时测定二十种以上元素，样品无损分析，任何不规则形状都可直接进行测量。本仪器采用美国进口Si-PIN探测器，摒弃液氮制冷.可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业，是企业质量控制的理想选择。

RoHs Validator能量色散型X射线荧光分析仪 高灵敏度高精度测定有害物质　　第三代美国善思科技（国际） X射线荧光分析仪EDX7618，采用世界上*先进的硅SIPIN探测器（分辨率为,150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，*大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提

ST-86LA型屏幕亮度计是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，它在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。

X射线 所有的设备遵循ASTM B568， DIN 50 987和 ISO 3497等国家和国际标准。 制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，X射线仪器具有其独特的特点。

X-Strata960 基于25年涂镀层测量经验，在CMI900系列测厚仪的坚实基础上，引进全新的设计： 新100瓦X射线管 - 市场上所能提供的*强大的X射线管。提高30%测量精度，同时减少50%测量时间 更小的X射线

ST-86LA屏幕亮度计；是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，它在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。*采用稳定性好、耐强光、耐冲击的硅光电池探测器,经严格

FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特

设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。它是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。

HELMUT FISCHER制造用于镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统有超过17年的经验。通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线测厚仪具有其独特的特点。