X-射线荧光镀层测厚及材料元素分析仪 所 在 地： 德国 简单介绍： HELMUT FISCHER镀层厚度测量和材料分析的X射线荧光系统通过对所有相关过程包括X射线荧光测量法的**处理和使用了*新的软件和硬件技术，FISCHER公司的X射线仪器具有其独特的特点。

X射线荧光光谱仪EDX-720迅速测定ppm级的有害金属！ 应对WEEE & RoHS、ELV等有害物质相关法规。 应对ASTM F963,EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料,的绿色环保。 X射线荧光光谱仪EDX-720是使用Ｘ射线照射样品，对产生的荧光Ｘ射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛

多元素分析仪：分析原理：能量色散X射线荧光分析法分析法

Lab-X3500 X射线荧光光谱仪具有样品处理简化、容易操作等优点。Lab-X3500 即可独立操作使用，又能与电脑相联。新的软件可以显示光谱，可以显示质控检查的曲线图并能保存校准资料。

TX-300ROSS检测仪器产品详细参数 　　1.分析原理 能量色散X射线荧光分析法 　　2.分析元素 K～U任意元素，铅（Pb）、汞（Hg）、六价铬（Cr6＋）、 　　多溴联苯（PBB）和多溴联苯醚（PBDE）中的溴 　 ROSS检测仪器

美国I-CHEQ公司手持合金分析仪是目前世界*先进手持X射线荧光光谱仪，广泛应用于各种金属材质检测场所。