美国伊诺斯Innov-X小型台式X射线衍射仪 XRD-BTX是一款小型台式X射线衍射（XRD）和X射线荧光（XRF）分析仪，由美国伊诺斯公司（Innov-X）开发生产．作为美国宇航局火星基础地质考察专用设备，颠覆了传统大型台式机XRD的基本构造，具有独特的技术特点和使用特点。

能量色散X荧光光谱仪EDX-Pocket-I 检测对象：各种材料中的(Pb、Hg、Br、Cd、Cr)激发源：40KV-银靶微型X光管X射线光束直径：6 mm检测时间：一般检测时间为10-200秒检测范围：钾到铀之间所有元素,包括RoHS 指令（Cr Br Pb Hg Cd）

X荧光能谱仪 X荧光能谱仪Rohs检测仪 镀层测厚仪膜测厚仪美国赛黙飞世尔ThermoFisher（美国热电）能量色散X-射线荧光光谱仪（ED-XRF）

Ux300系列X射线荧光光谱分析仪，测试材料中的有害物质 (RoHS有害物质，包括：铅Pb、汞Hg、镉Cd、铬Cr、溴Br),使各类产品符合RoHS要求,该款仪器采用多层迷宫式辐射防护设计，探测器

EDX-2 X射线荧光光谱仪EDX-2EDX-2 X射线荧光光谱仪EDX-2EDX-2 X射线荧光光谱仪EDX-2EDX-2 X射线荧光光谱仪EDX-2

隶属于美国热电集团（Thermo Fisher Scientific）的尼通公司（NITON）是国际公认的手持式X射线荧光技术的****公司。创立20逾年来，NITON凭借持续不断地技术革新三度荣获

采用能量色散X荧光分析技术（EDXRF），实现多种元素同时测量。采用多种措施优化光路设计和配置，保证了特征X射线的探测效率。采用50W侧窗X射线管，功耗低、寿命长，对轻重元素均有较高的激发效率。

英国牛津仪器Oxford CMI243测厚仪膜厚仪属于金属镀层厚度测量仪，它的测试精度结果足以媲美X射线荧光测厚仪。英国牛津仪器Oxford CMI243测厚仪膜厚仪该仪器设计小巧、便于携带、可随

X射线荧光光谱仪配套部件 X射线荧光分析的一个显著特点是试样制备简单。如果用实际考察过的制样设备能进一步简化您的工作。 斯派克公司有一系列XRF光谱分析用辅助设备，包括：用于制备熔片的试样熔融系统。试样熔融后可防止颗粒

二手ROHS检测仪 SEA-1000A 环保测试仪高灵敏度 因为采用了大面积的检测器以及样品到检测器之间的*短距离的设计，因此提高了X射线荧光的检测效果。

X荧光射线膜厚分析仪是利用XRF原理来分析测量金属厚度及物质成分，可用于材料的涂层/镀层厚度、材料组成和贵金属含量检测。

销售服务**:0769-88953230荧光光谱仪/X荧光光谱仪/X射线荧光谱仪/水泥行业专用重金属检测仪BX-100C小型多道X射线荧光光谱仪是采用波长色散技术的多种元素同时**定量的分析 仪器

X射线管用于医学诊断、**、零件的无损检测 ，物质结构分析 、光谱分析、科学研究等方面。X射线对人体有害，使用时须采取防护措施。