GNR ,26年来始终在定义XRF的标准自1991年以来，GNR一直专注于X射线荧光光谱仪的研发和制造，伴随这全球废旧金属的兴起，金属材料判定 的成熟，环境检测的标准化，GNR始终**这全球XRF

德国布鲁克X射线荧光光谱仪S8 DRAGON适用于金属生产流程控制的**、高速元素分析，是一台真正同步的 XRF 光谱仪。

能量色散X射线荧光光谱仪EDX8800(真空型)元素分析范围从钠(Na)到铀(U)，采用国际*先进的美国原装进口SDD硅漂移探测器，分辨率更高，大大提高了轻元素的检出限，标准检出限较SI-PIN探测器提高100倍

北师大仪器厂 ST-86LA屏幕亮度计 ST86LAST-86LA型屏幕亮度计是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，它在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。

EDX-Pocket-I 天瑞手持式X荧光光谱仪 检测对象：各种材料中的(Pb、Hg、Br、Cd、Cr) X射线光束直径：6 mm 检测时间：一般检测时间为10-200秒 检测范围：钾到铀之间所有

手持式X射线荧光分析仪X-MET7500· 行业认可的“一键式”分析· 识别牌号只需几秒· 广泛的牌号鉴定范围,包括从镁元素到铝元素· 自定义结果显示，包括合格/不合格消息框· 快速轻松地输出平均分析结果· 预热快：得到结果只需几秒

S1 TURBOSDLE手持式合金分析仪是****台配置了硅漂移探测器（SDD）的手持X射线荧光光谱仪，检测器能量分辨率高达 140eV，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。

美国CMI 900 X-射线荧光镀层厚度测量仪 CMI900 X-RAY的原理 X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激励被测样品。样品中,的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性。探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。然后，

镀层测厚仪X射线荧光光谱仪：hick800A镀层测厚仪专门研发用于镀层行业的一款仪器，镀层测厚仪可全自动软件操作，可多点测试，镀层测厚仪软件控制仪器的测试点，以及移动平台。镀层测厚仪是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。

ST-86LA 手动屏幕亮度计 ST-86LA型屏幕亮度计是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，它在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。ST-86LA 手动屏幕亮度计