德国马尔 Millimar C1216M薄膜测厚仪 MillimarC1216M
德国马尔 Millimar C1216M薄膜测厚仪

德国马尔 Millimar C1216M,德国马尔 Millimar C1216M是应用于生产现场的电子长度测量...

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仪力信497型薄膜测厚仪 497型
力信497型薄膜测厚仪

力信497型薄膜测厚仪 目的 和 应用 薄膜测厚仪用于以下两个领域: 它可用于测量金属箔片、塑料薄膜、纸板、纸张和其它片的度。 **个也是更重要的应用为测量基材上的涂层材料度。

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日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J SMD-540J/SMD-550J/SMD-565J
日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J

日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J类型 薄膜测厚仪品牌 日本TECLOCK得乐型号 日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J/SMD-550J/SMD-565J测量范围12(mm)显示方式数显外形尺寸30(mm)电源电压3(V)

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SGC-2 自动椭圆偏振测厚仪 SGC-2
SGC-2 自动椭圆偏振测厚仪

椭圆偏振法测量的原理很早就已提出 ,相应的测试方法和设备也不断地被改进和** ,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段 ,广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域〔1〕.其中测量薄膜材料的度、折射率和消光系数是椭圆偏振法*基本、也是非常重要的应用之一 .

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PEACOCK孔雀牌 T2-205W型 深度計 手持式薄膜表 厚度计 测厚规 卡规 进口卡规 测厚仪 广州品牌代理批发商 T2-205W
PEACOCK孔雀牌 T2-205W型 深度計 手持式薄膜度计 测规 卡规 进口卡规 测厚仪 广州品牌代理批发商

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 Millimar C1216M薄膜测厚仪 C1216M
Millimar C1216M薄膜测厚仪

德国马尔mahr Millimar C1216M薄膜测厚仪,Millimar C1216M薄膜测厚仪是高精度型薄膜测厚仪,主要用于塑料薄膜片、隔、纸张、箔片等各种材料的度**测量。广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜度有严格要求的领域

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天星ED400涡流测厚仪 ED400
天星ED400涡流测厚仪

天星ED400涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,器性能显著提高。天星ED400涡流测厚仪主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化或涂层度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化或涂层度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的度,测量塑料薄膜及纸张度。

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N磁性测厚仪 TST-GT318
N���性测厚仪

用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的度。本器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。 ,N磁性测厚仪由德国生产,一体式器结构,可以单手操作。它采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的度,可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层度,还可

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薄膜测厚仪,薄膜测厚仪
薄膜测厚仪薄膜测厚仪

薄膜测厚仪薄膜测厚仪薄膜测厚仪

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薄膜测厚仪 薄膜测厚仪
薄膜测厚仪 薄膜测厚仪

薄膜测厚仪 薄膜测厚仪,本薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜片的度(不适用于压花的薄膜片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。

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德国ERICHSEN仪力信薄膜测厚仪  -#497型
德国ERICHSEN力信薄膜测厚仪

德国ERICHSEN力信薄膜测厚仪 目的和应用:可用于测量金属箔片、塑料薄膜、纸板、纸张和其它片的度。

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反射光谱薄膜测厚仪 TFMS-LD
反射光谱薄膜测厚仪--TFMS-LD

TFMS-LD是一款反射光谱薄膜测厚仪,可快速**地测量透明或半透明薄膜度,其测量范围为15nm-50um,器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率,并且采用光纤反射探头。器尺寸小巧,方便于在实验室中摆放和使用。

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JS-QCHY-U   测厚仪/薄膜测厚仪/高精度测厚仪 型号:JS-QCHY-U JS-QCHY-U
JS-QCHY-U 测厚仪/薄膜测厚仪/高精度测厚仪 型号:JS-QCHY-U

JS-QCHY-U 测厚仪/薄膜测厚仪/高精度测厚仪 型号:JS-QCHY-U 适用于2mm范围内的塑料薄膜片、隔、纸张、箔片、硅片等各种材料的度**测量。关键词GB/T 6672、GB/T 451.3、测厚仪薄膜测厚仪、高精度测厚仪、机械接触测厚仪

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