![](/content/images/supplies/inquerys.png)
![德国马尔 Millimar C1216M薄膜测厚仪 MillimarC1216M](http://y1.yzimgs.com/uploads/927/2016918-18143123.png?imageView2/2/w/200/h/200)
德国马尔 Millimar C1216M,德国马尔 Millimar C1216M是应用于生产现场的电子长度测量...
![仪力信497型薄膜测厚仪 497型](http://y3.yzimgs.com/uploads/326240/2010072116524278.jpg)
仪力信497型薄膜测厚仪 目的 和 应用 薄膜测厚仪用于以下两个领域: 它可用于测量金属箔片、塑料薄膜、纸板、纸张和其它薄片的厚度。 **个也是更重要的应用为测量薄基材上的涂层材料厚度。
![日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J SMD-540J/SMD-550J/SMD-565J](http://y2.yzimgs.com/uploads/304470/201632-115047928.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rex5Zyz5biC6IW-5piO6L6-57K-5a-G5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J类型 薄膜测厚仪品牌 日本TECLOCK得乐型号 日本TECLOCK得乐数显厚薄表SMD-540J/SMD-550J/SMD-565J测量范围12(mm)显示方式数显外形尺寸30(mm)电源电压3(V)
![SGC-2 自动椭圆偏振测厚仪 SGC-2](http://y2.yzimgs.com/uploads/4401/2008062811424440.jpg)
椭圆偏振法测量的原理很早就已提出 ,相应的测试方法和设备也不断地被改进和** ,使得椭圆偏振法成为重要的测试手段 ,广泛地应用在光学、材料、生物、医学等各个领域〔1〕.其中测量薄膜材料的厚度、折射率和消光系数是椭圆偏振法*基本、也是非常重要的应用之一 .
![PEACOCK孔雀牌 T2-205W型 深度計 手持式薄膜表 厚度计 测厚规 卡规 进口卡规 测厚仪 广州品牌代理批发商 T2-205W](http://y2.yzimgs.com/uploads/890/20180616-1529149883.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5bm_5bee5biC5pm25Y2a55S15a2Q5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
PEACOCK孔雀牌 T2-205W型 深度計 手持式薄膜表 厚度计 测厚规 卡规 进口卡规 测厚仪 广州品牌代理批发商PEACOCK孔雀牌 T2-205W型 深度計 手持式薄膜表 厚度计 测厚规 卡规 进口卡规 测厚仪 广州品牌代理批发商
![Millimar C1216M薄膜测厚仪 C1216M](http://y1.yzimgs.com/uploads/605/2015053010582842.png)
德国马尔mahr Millimar C1216M薄膜测厚仪,Millimar C1216M薄膜测厚仪是高精度型薄膜测厚仪,主要用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片等各种材料的厚度**测量。广泛应用于薄膜生产企业、质检机构、研究院校等对薄膜厚度有严格要求的领域
![天星ED400涡流测厚仪 ED400](http://y3.yzimgs.com/uploads/335221/20171222-14211785.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/54-g5rW35aSp5Yib5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/Center)
天星ED400涡流测厚仪是ED300型测厚仪的改进型,仪器性能显著提高。天星ED400涡流测厚仪主要用于测量铝合金型材表面的阳极氧化膜或涂层厚度,还可用于测量其它铝板、铝管、铝塑板、铝零件表面的阳极氧化膜或涂层厚度,测量其他有色金属材料上绝缘性覆盖层的厚度,测量塑料薄膜及纸张厚度。
![N磁性测厚仪 TST-GT318](http://y3.yzimgs.com/uploads/327458/2009042411385265.jpg)
用于测量各种金属箔(如铜箔、铝箔、金箔等)和非金属薄膜(如纸张、塑料等)的厚度。本仪器可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。符合国家标准。 ,N磁性测厚仪由德国生产,一体式仪器结构,可以单手操作。它采用电磁感应原理,适用于测量各种磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度,可以测量钢铁上的各种电镀(镀镍除外)、涂层、珐琅、塑料等覆盖层厚度,还可
![薄膜测厚仪 薄膜测厚仪](http://y3.yzimgs.com/uploads/173725/2007102511310320.jpg)
薄膜测厚仪 薄膜测厚仪,本薄膜测厚仪适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)。本测厚仪执行GB-T6672-2001标准。
![德国ERICHSEN仪力信薄膜测厚仪 -#497型](http://y3.yzimgs.com/uploads/2230/2007710215637738.jpg)
德国ERICHSEN仪力信薄膜测厚仪 目的和应用:可用于测量金属箔片、塑料薄膜、纸板、纸张和其它薄片的厚度。
![反射光谱薄膜测厚仪 TFMS-LD](http://y1.yzimgs.com/uploads/346596/2015122508475937.jpg)
TFMS-LD是一款反射光谱薄膜测厚仪,可快速**地测量透明或半透明薄膜的厚度,其测量膜厚范围为15nm-50um,仪器所发出测试光的波长范围为400nm-1100nm。此款测试系统理论基础为镜面反射率,并且采用光纤反射探头。仪器尺寸小巧,方便于在实验室中摆放和使用。
![JS-QCHY-U 测厚仪/薄膜测厚仪/高精度测厚仪 型号:JS-QCHY-U JS-QCHY-U](http://y1.yzimgs.com/uploads/344489/2014031909530045.jpg)
JS-QCHY-U 测厚仪/薄膜测厚仪/高精度测厚仪 型号:JS-QCHY-U 适用于2mm范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量。关键词GB/T 6672、GB/T 451.3、测厚仪、薄膜测厚仪、高精度测厚仪、机械接触测厚仪