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![薄膜测厚仪 BX610-STC-A](http://y1.yzimgs.com/uploads/367833/2013080810272823.jpg)
BX610-STC-A--薄膜测厚仪详细介绍BX610-STC-A--薄膜测厚仪详细介绍BX610-STC-A--薄膜测厚仪详细介绍
![全自动薄膜测厚仪CHY-C2 CHY-C2](http://y1.yzimgs.com/uploads/493132/201791-102826109.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rWO5Y2X6L6w6amw6K-V6aqM5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4IA==/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
全自动薄膜测厚仪CHY-C2 适用于2mm范围内的塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度**测量
![德国仪力信erichsen497手提式薄膜纸张测厚仪现货供应 erichsen497](http://y3.yzimgs.com/uploads/488991/2016316-172227924.png?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5YyX5Lqs576O54m56L-p546v5L-d5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/Center)
德国仪力信erichsen497手提式薄膜纸张测厚仪现货供应德国仪力信erichsen497手提式薄膜纸张测厚仪现货供应
![CH-12.7-STSX数显台式薄膜薄片测厚仪 CH-12.7-STSX](http://y3.yzimgs.com/uploads/485877/2015080422100095.jpg)
CH-12.7-STSX数显台式薄膜薄片测厚仪主要用于测量硫化橡胶和塑料制品厚度的仪器。CH-12.7-STSX数显台式薄膜薄片测厚仪参照执行GB/T2951.1-1997《电缆绝缘和护套材 料通用,试验方法,第1部分:通用试验方法,第1节厚度和外形尺寸测量——机械性能试验》的国家标准,还参照执行G2041-1991《橡胶厚度计技术条件》化工部行业标准。具有结构简单,使用方便,质量可靠,底座可拆等特点。
![フィッシャースコープ MMS PC薄膜测厚仪,日本凯特KETT牌测厚仪 フィッシャースコープ MMS PC](http://y1.yzimgs.com/uploads/383607/2014092318550765.jpg)
フィッシャースコープ MMS PC薄膜测厚仪,日本凯特KETT牌测厚仪フィッシャースコープ MMS PC薄膜测厚仪,日本凯特KETT牌测厚仪フィッシャースコープ MMS PC薄膜测厚仪,日本凯特KETT牌测厚仪
![SANKO山高超声波薄膜测厚仪Quint sonic 7 超声波薄膜测厚仪Quint sonic 7](http://y1.yzimgs.com/uploads/521308/2019121-174442692.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5aGU546b6JCo5bSO55S15a2Q77yI6IuP5bee77yJ5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/SouthEast)
超声波薄膜测厚仪Quint sonic 7 SANKO山高超声波薄膜测厚仪Quint sonic 7SANKO山高超声波薄膜测厚仪Quint sonic 7SANKO山高超声波薄膜测厚仪Quint sonic 7
![超声波测厚仪GE DM5E](http://y2.yzimgs.com/uploads/519286/20171020-174051346.jpg?imageView2/2/w/200/h/200)
超声波测厚仪GE DM5E外壳坚固,它采用人机工程学设计,包括连续工作 60小时的AA蓄电池在内,重量仅为223g,操作由一只手通过用户友好型界面完成。采用密封、水密且防尘的薄膜式键盘,配有*少,的功能键和方向键。通过菜单导航让操作简单而直观。基本机型包括*小/*大值捕获、B 扫描、报警以及差值厚度测量模式等多种功能。超声波测厚仪GE DM5E
![薄膜测厚仪 HD-4](http://y1.yzimgs.com/uploads/493132/2016616-111528756.jpg?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5rWO5Y2X6L6w6amw6K-V6aqM5Luq5Zmo5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4IA==/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/Center)
薄膜测厚仪产品用途: 薄膜测厚仪是薄膜、薄片物理性能检测的基本要素之一,薄膜、薄片的一些基本特性和强度性能与厚度有密切相关,它是一个重要的性能检测项目。HD-4型薄膜、薄片厚度测试仪是薄膜、薄,片厚度测定的专用仪器,广泛适用于薄膜、薄片及其他片状材料的厚度测定。本厚度仪的结构和技术性能完全符合GB/T 6672等标准要求,是薄膜、薄片生产、科研及商检等企业和部门不可缺少的常用仪器。
![薄膜测厚规G-0.4N日本孔雀牌 G-0.4N](http://y3.yzimgs.com/uploads/459428/2015090209274362.jpg)
薄膜测厚规G-0.4N日本孔雀牌和特定应用的刻度盘式测厚仪0.01毫米类型薄膜测厚规G-0.4N日本孔雀牌
![数显薄膜薄片测厚仪CH-12.7-STSX进口替代 CH-12.7-STSX](http://y1.yzimgs.com/uploads/391770/20161110-91844809.png?imageView2/2/w/200/h/200|watermark/2/text/5LiK5rW35LqU5LmF6Ieq5Yqo5YyW6K6-5aSH5pyJ6ZmQ5YWs5Y-4/font/5a6L5L2T/fontsize/300/fill/I0E3QTlBOA==/gravity/South)
数显薄膜薄片测厚仪CH-12.7-STSX进口替代参数名称参数值型号CH-12.7-STSX 分 度 值0.001mm 测量范围0mm~12.7mm 准确度≤0.005mm