小巧的探头仅有1.5in长、100mil宽。该探头与示波器性能相配，当为当今使用广泛的EIAJ和JEDEC表面封装器件的提供测试方案。 　　尽管随着测量仪器的改进已经提供了一系列的数字式诊断工具,，但面对探测小几何尺寸IC的具体挑战至今未能解决。Tektronix推出的SMD探头提供给电路设计人员**套完整的、现代化的探测小几何尺寸IC器件工具。　　SMD系列探头的基础接触件是一个能

太、兵工業、BGA、PCB基扳電子晶片、IC、半導體、陶磁及高分子材料或复合材料之物理牲變化提供了温度突变严酷温度环境测试条件,测试其在瞬间经高温、低温的连续温度变化环境下所能忍受的程度，试验其在急遽变

冷热冲击试验箱系列产品用途:本系列产品广泛应用于电子、汽车配件、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复抵拉力，试验出产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的认同。

可测试：74/40/45/41/44 系列之数位 IC

冷热冲击试验机使用于电子、汽车配件、塑胶等行业，测试各种材料对高、低温的反复抵拉力，试验出产品于热胀冷缩所产生的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质，从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的认同。

本产品适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验；半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器

移动至任何地方进行测试。 • 采用IC卡：具有数据存储、传输、检查、演算等功能。 • 体积小、重量轻、操作方便 • 具有计算测试数据的