掌上型数位IC测试器 GUT-6600
掌上型数位IC测试

GUT-6600掌上型数位IC测试器特点:简单易操作可测试:74/40/45/41/44 系列之数位 IC轻巧省电、可用电池供电平均搜寻时间:0.8 秒LCD 显示幕:1行 16 个数字测试 Pins 数:14 ~ 24 Pins

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冷热冲击试验机  WHTST-100-65-3A  WHTST-100-65-3A
冷热冲击试验机 WHTST-100-65-3A WHTST-100-65-3A

冷热冲击试验机 WHTST-3X-100D 冷热冲击试验机用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的认同。

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数字IC测试器 GUT-6000A
数字IC测试

【名 称】 数字IC测试器【类 别】 仪器仪表  【型 号】 GUT-6000A【厂 商】 台湾固纬

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数字IC测试器GUT-6000A GUT-6000A
数字IC测试器GUT-6000A

台湾固纬(GW-instek)数字IC测试器GUT-6000A

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东莞真正的冷热冲击试验机生产商 HQ-TS-225
东莞真正的冷热冲击试验机生产商 HQ-TS-225

及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害,可确认产品的质量,从精密的IC到重机械的组件,可作为其产品改进的依据或参考。 ,东莞真正的冷热冲击试验机生产商用途: 用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑料等行业,国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁

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激光粒子计数仪 kanomax TF-500
激光粒子计数仪 kanomax TF-500

kanomax TF-500激光粒子计数仪 **的演算功能显示操作顺序精度高,稳定性能好 电池驱动:无需AC电源导线,因此,可移动至任何地方进行测试。采用IC卡:具有数据存储、传输、检查、演算,等功能 体积小、重量轻、操作方便 具有计算测试数据的平均值、标准值、*大值、*小值等功能 通过RS-232C标准接口,可以通过计算机进行远程控制 可以选择测试方式 可以设定采样时间 可以设定报警值

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台湾GWINSTEK固纬数字IC测试器GUT-6000A GUT-6000A
台湾GWINSTEK固纬数字IC测试器GUT-6000A

台湾GWINSTEK固纬数字IC测试器GUT-6000A:数字IC测试器 数字IC测试仪 数字IC测试器,54/74系列TTL及高速CMOS,4000及4500系列CMOS,55及75系列TTL,*大可测28Pin。

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GUT-6600掌上型数位IC测试器 GUT-6600 掌上型数位IC测试器
GUT-6600掌上型数位IC测试器 GUT-6600 掌上型数位IC测试

GUT-6600 掌上型数位IC测试器 GUT-6600掌上型数位IC测试器. 简单易操作 . 可测试:74/40/45/41/44 系列之数位 IC .轻巧省电、可用电池供电 .平均搜寻时间:0.8 秒 .LCD 显示幕:1行 16 个数字 .测试 Pins 数:14 ~ 24 Pins

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台湾固纬数位IC测试器GUT-6000A GUT-6000A
台湾固纬数位IC测试器GUT-6000A

台湾固纬数位IC测试器GUT-6000A 1:Loop 测试 2:自动搜寻 IC 编号功能 3:开机自我侦测诊断功能 4:过载保护功能 5:可量测之 IC 种类超过 1800 种

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江苏绿扬 YB3114 IC在线/离线数字测试系统/江苏绿扬  YB3114
江苏绿扬 YB3114 IC在线/离线数字测试系统/江苏绿扬

江苏绿扬 YB3114 IC在线/离线数字测试系统/· *大测试引脚数40 · *大测试速度500KHz/Pin · 中文菜单,操作简单

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[CP-7D模拟万用表|日本三和SANWA指针万用表CP7D] CP-7D
[CP-7D模拟万用表|日本三和SANWA指针万用表CP7D] CP-7D

[CP-7D模拟万用表|日本三和SANWA指针万用表CP7D]厚度只有23mm的 *薄型 带镜子的宽刻度 * 固定式测试线,追求完全性和可操作性 * 采用高 精度、耐热性、无烟性的氧化金属皮膜电阻, * 电池检查功能 * 保险丝、二 极管保护电路 另购附件 便携套:C-CP 线枷连接线:CL-11、TL-8IC.

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类比IC测试器 GUT-6001
类比IC测试

GUT-6001类比IC测试器 特点: Windows and DOS 驱动 轻巧省电、可用电池供电 提供两种操作模式:(1)单机操作、(2)电脑连线操作 LCD 显示幕:两行 16 个数字 元件,处理相关参数均可设定,诸如烧录演算法 强大的 HEX/ASCII 记忆与 fusemap、测试资料库以及全萤幕编辑 支援档案格式:Binary Code, Intel HEX & 80/86HEX

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SoC 测试系统 Model 3650
SoC 测试系统

平行测试功能 Chroma 3650可在一个测试头中,提供*多512 个数位通道,并具备高产能的平行测试功能, *高可同时测试32 个待测晶片,以提升量产效 能。在Chroma 3650中,每片单一,的LPC板拥有 64个数位通道,并结合具备高效能基础的Pin Function (PINF) IC,每一颗 PINF IC 具备4 个数 位通道的时序产生器,以提供50ps 以内的精准 度。

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冷热冲击箱 LS
冷热冲击箱 LS

冷热冲击箱适用于:电子、汽车配件、塑胶等……测试各种材料对高、低温的反复抵拉力,试验产品于热涨冷缩产生的物理伤害或化学变化,可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件,无一不需要它的认同。

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