台湾固纬GWinstek GUT - 6600 IC测试仪特点： 可测试： 74/40/45/41/44 系列之数位 IC 轻巧省电、可用电池供电平均搜寻时间： 0.8 秒 LCD 显示幕： 1行 16 个数字测试 Pins 数：14 ~ 24 Pins

GUT-6000A IC测试仪：特点 ． Loop 测试． 自动搜寻 IC 编号功能． 开机自我侦测诊断功能． 过载保护功能 ． 可量测之 IC 种类超过 1800 种 ． 54/74 系列 TTL 及高速 CMOS ． 4000 及 4500 系列 CMOS． *大可测 Pin 数 : 28 Pin

台湾固纬 零组件测试仪器 数字IC测试仪GUT-6000A 测试范围 54/74 系列 TTL4000 及 4500 系列 CMOS测量种类 约 1800 种测试电压 5V DC测试时间 高测试速度，平均 0.8 秒可完成一个 IC

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IC卡**插拔寿命检测仪适用于多种连接器插拔寿命试验之用，可显示测试速度，及设定试验次数；从而达到对各类连接器插拔寿命试验,，IC卡**插拔寿命检测仪并具有次数设定，速度行程可调，并且显示速度值,，具有导通测试功能,如产品不导通那说明此产品已**,此时计数器已停止计数,可谓目前市场上*高性价比之插拔寿命试验机。

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