美国伊诺斯(Innov-X System)公司位于美国波士顿，美国纽约证券交易所上市企业，是全球*专业的微型X荧光光谱技术研发商，生产的Innov-X OMEGA系列、Alpha系列便携式X射线萤光,光谱分析仪占据欧美手提式X荧光分析仪70%的市场份额。伊诺斯是全球**通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光光谱技术分析仪器的生产厂商，同时通过了NATO AQAPI标准。(该标准为北大西洋公约组

X荧光光谱仪根据不同样品从开始测试到得到结果所需测试时间基本上可在1分钟内完成，所以完全可以应对RoHS法规中所限制的有害元素的筛选分析。另外，*近几年在众多企业中实施的自行检测有害元素Cl的检测分析，该款装置也可以通过筛选分析简单的检测出来。同时推荐该装置作为中国版RoHS**阶段应对手段。

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。行业用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量。

RoHs Validator能量色散型X射线荧光分析仪 高灵敏度高精度测定有害物质　　第三代美国善思科技（国际） X射线荧光分析仪EDX7618，采用世界上*先进的硅SIPIN探测器（分辨率为,150ev），实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管，*大程度地缩小了X射线源与被测物体的间距，从而在较低的电压下达到同样的激发效率，同时减少了漫射光的干扰，大大地提

ST-86LA型屏幕亮度计是为测量各种荧光屏和透射屏的亮度而专门设计的，它在电视、医用X射线、CRT及场致发光、荧光物质等测量方面有广泛的用途。

X-Strata980 X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比，从而降低检测下限。探测器分辨率极高，能更

UX-220X荧光光谱仪快速应对RoHS&WEEE&无卤化指令，有效控制受限物质环保风险元素检测。