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![牛津CMI 200系列CMI 243 膜厚仪 牛津CMI 243](http://y1.yzimgs.com/uploads/173718/20071121507767.jpg)
CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更**。**配置的测量探头对细小的零件也可以**测量。它具有X射线荧光的测量精度,同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。
![X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪 元素分析仪](http://y2.yzimgs.com/uploads/167302/2008031010181184.jpg)
X-Strata980(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪)产品简介: X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器
![便携式全反射X射线荧光元素分析仪 OURSTEX200TX](http://y1.yzimgs.com/uploads/88199/2011051615163276.jpg)
分析。测定原理:全反射X射线荧光分析法,针对基座表面全反射临界角以下角度照射,不侵入试验基板之内,不会造成基板内部X射线散乱发射的情况,因此可以进行极微量级别的分析。规格测定原理全反射X射线荧光分
![X荧光光谱仪EDX6000 EDX6000](http://y2.yzimgs.com/uploads/4412/2012072312030974.jpg)
X荧光光谱仪EDX6000 多样自动进样系统 X荧光光谱仪EDX6000 计算机、喷墨打印机 X荧光光谱仪EDX6000 真空泵(可选) X荧光光谱仪EDX6000 压片机(可选) X荧光光谱仪EDX6000 硅针半导体探测器
![土壤重金属检测仪 SHM-9](http://y1.yzimgs.com/uploads/624/2008031910021160.jpg)
根据量子力学原理,当原子受到外来X射线的照射时,内层电子会吸收能量而被激发,外层电子会跃迁至内层,在电子跃迁的过程中,由于能量的必散,产生荧光。每种重金属原子的电子在跃迁时所发散的能量都不相同,不同,重金属的X荧光的光谱存在**性,根据重金属受X射线激发后产生荧光光谱的吸收峰位置和吸收强度,就可进行重金属含量的定性区分和和定量分析
![合金分析仪DP2000 合金分析仪DP2000](http://y3.yzimgs.com/uploads/347463/2012021313563525.jpg)
美国伊诺斯(Innov-X System)公司位于美国波士顿,美国纽约证券交易所上市企业,是全球*专业的微型X荧光光谱技术研发商,生产的Innov-X OMEGA系列、Alpha系列便携式X射线萤光,光谱分析仪占据欧美手提式X荧光分析仪70%的市场份额。伊诺斯是全球**通过ISO9001质量体系认证的微型X荧光光谱技术分析仪器的生产厂商,同时通过了NATO AQAPI标准。(该标准为北大西洋公约组
![X-Strata980(X荧光镀层测厚及痕量元素分析仪) X-Strata980](http://y2.yzimgs.com/uploads/303886/2009011402140662.jpg)
X-Strata980 X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率探测器,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态探测器确保**的信/躁比,从而降低检测下限。探测器分辨率极高,能更
![XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪 XD-8000](http://y1.yzimgs.com/uploads/195897/2010032610502198.jpg)
XD-8000能量色散X射线荧光光谱仪元素测定范围Na-U,含量范围1ppm-100%一次可以同时测定二十种以上元素,样品无损分析,任何不规则形状都可直接进行测量。本仪器采用美国进口Si-PIN探测器,摒弃液氮制冷.可广泛应用于环保、考古、建材、RoHS指令等各种行业,是企业质量控制的理想选择。
上海拜沃生物拥有国内*全的二抗产品线,包括HRP标记、生物素标记、AP标记、FITC及各种荧光素标记二抗等,灵敏度高,背景低,质量稳定,价格优惠、包售后,我们有自己实验室提供技术支持、代做实验,。Jackson原装进口二抗,品质保证。115-295-003Rhodamine Red-X(RRX) Goat Anti-Mouse IgG (H+L) 山羊抗小鼠