德国JENA高精度平面光栅尺 LIK-2D

德国JENA高精度平面光栅尺

简介

1、二维线性测量光栅尺
2、光栅周期20 µm，玻璃盘
3、测量范围可达105 x 89 mm（更大可以定制）
4、测量角度范围*大可达 ±10’
5、细分*大为×100，细分电路在15pin Sub-D接头内
6、读头尺寸精巧
7、多种安装方式
8、高分辨率、高精度
9、高细分精度，信号可自动调整
10、每个测量方向一个原点信号

技术参数

1、读头重量：17g （不含线）
2、可选分辨率：0.05µm、0.1µm、0.2µm、0.5µm、1µm、5µm
3、速度参数：
       无细分电路－－max. 600 m/min --->10 m/s
       细分数x50－－max. 96   m/min --->1.6 m/s
4、测量范围：
       长度－－105 x 89 mm（更大可以定制）
       角度－－±10’
5、测量标准：
       材质－－玻璃，厚度1.1mm