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产品资料

XP超越系列**型分析天平

XP超越系列**型分析天平
  • 如果您对该产品感兴趣的话，可以
  • 产品名称：XP超越系列**型分析天平
  • 产品型号：XP105DR,XP204,XP205 ,XP205DR ,XP504,XP504DR
  • 产品展商：其它品牌
  • 产品文档：无相关文档
简单介绍
XP超越系列**型分析天平 在产品内容中有关于 XP超越系列**型分析天平 的详细介绍。
产品描述
 
XP超越系列**型分析天平

梅特勒-托利多的超越系列**型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。**性的**设计带来了****的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。
  • 红外感应器(SmartSense)，实现无需用手接触的称量操作：开关门、打印、去皮等
  • 彩色智能触摸屏(SmartScreen)，实现安全，便捷的天平操作
  • 网格秤盘(SmartGrid)，获得快速、准确称量结果
  • 水平控制系统(LevelCControl),  在天平偏移水平位置时提供警告提示功能
  • 易巧称量组件(ErgoClip)，满足使用不同容器的称量需求
  • 用户管理工具(UserManagement)，可以独立设置操作者的使用权限
  • MinWeigh*小称量值功能，提供符合规范的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)
  • 天平校验功能(BalanceCheck)，自动提示用户使用外置砝码校验天平,确保称量结果始终准确
  • ProFACT专业级全自动校准技术，温度漂移和时间设置触发的内置砝码自动校准和全自动线性校准,获得**称量结果
  • 完全可拆卸、清洗的防风罩设计，实现快速清洁
  • 高度可调节的内置防风罩，确保**称量结果
  • 可移动、分离的显示控制终端，方便天平使用
  • 标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、USB、LocalCan、RS232和PS/2通讯接口选件插槽，方便连接打印机、电脑等外围设备
  • 显示屏塑料保护罩，避免散落样品的腐蚀
  •  
  • 6种内置应用称量程序:简单称量、计件称量、百分比称量、密度测定、统计功能、公事称量



产品名称列表
 可读性*大称量值
XP超越系列**型分析天平XP105DR  0.01/0.1mg31/120g
XP超越系列**型分析天平XP204 0.1mg220g
XP超越系列**型分析天平XP205 0.01mg220g
XP超越系列**型分析天平XP205DR 0.01/0.1mg81/220g
XP超越系列**型分析天平XP504 0.1mg520g
XP超越系列**型分析天平XP504DR 1/0.1mg101/520g


XP105DR  

实验室仪器,电子天平及比较器,分析天平,XP超越系列**型分析天平,XP105DR 

 


 
技术指标
*大称量值120g
精细量程的*大称量值31g
可读性0.1mg
精细量程的可读性0.01mg
重复性：正常加载(sd)0.06mg（100g）
重复性：微量加载0.05mg（10g）
重复性：精细量程微量加载0.015mg（10g）
线性0.15mg
四角误差0.2mg（50g）
灵敏度漂移4x10-6  
灵敏度温度漂移（10-30°C）1x10-6/°C  
接口更新速率23/s  
天平外型尺寸(W×D×H mm)263×486.5×322
秤盘尺寸(W×D mm)76×73

XP204  

实验室仪器,电子天平及比较器,分析天平,XP超越系列**型分析天平,XP204

 


 
技术指标
*大称量值220g
可读性0.1mg
重复性：正常加载(sd)0.07mg（200g）
重复性：微量加载0.05mg（10g）
线性0.2mg
四角误差0.25mg（100g）
灵敏度漂移3x10-6  
灵敏度温度漂移（10-30°C）1x10-6/°C  
接口更新速率23/s  
天平外型尺寸(W×D×H mm)263×486.5×322
秤盘尺寸(W×D mm)76×73


XP205 

实验室仪器,电子天平及比较器,分析天平,XP超越系列**型分析天平,XP205

 


 
技术指标
*大称量值220g
可读性0.01mg
重复性：正常加载(sd)0.03mg（200g）
重复性：微量加载0.015mg（10g）
线性0.1mg
四角误差0.2mg（100g）
灵敏度漂移2x10-6  
灵敏度温度漂移（10-30°C）1x10-6/°C  
接口更新速率23/s  
天平外型尺寸(W×D×H mm)263×486.5×322
秤盘尺寸(W×D mm)76×73
XP205DR 

实验室仪器,电子天平及比较器,分析天平,XP超越系列**型分析天平,XP205DR

 


 
技术指标
*大称量值220g
精细量程的*大称量值81g
可读性0.1mg
精细量程的可读性0.01mg
重复性：正常加载(sd)0.06mg（200g）
重复性：微量加载0.05mg（10g）
重复性：精细量程微量加载0.015mg（10g）
线性0.15mg
四角误差0.25mg（100g）
灵敏度漂移2.5x10-6  
灵敏度温度漂移（10-30°C）1x10-6/°C  
接口更新速率23/s  
天平外型尺寸(W×D×H mm)263×486.5×322
秤盘尺寸(W×D mm)76×73
XP504DR 

实验室仪器,电子天平及比较器,分析天平,XP超越系列**型分析天平,XP504DR

 


 
技术指标
*大称量值520g
精细量程的*大称量值101g
可读性1mg
精细量程的可读性0.1mg
重复性：正常加载(sd)0.6mg（100g）
重复性：微量加载0.5mg（10g）
重复性：精细量程微量加载0.1mg（10g）
线性0.5mg
四角误差0.5mg（200g）
灵敏度漂移4x10-6  
灵敏度温度漂移（10-30°C）1x10-6/°C  
接口更新速率23/s  
天平外型尺寸(W×D×H mm)263×486.5×322
秤盘尺寸(W×D mm)76×73
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