精密测量显微镜 UHLVMM200

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产品名称：精密测量显微镜
产品型号：UHLVMM200
产品展商：德国UHL公司
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简单介绍

精密测量显微镜VMM200配置：XY轴测量范围150X100mm或250X150mm;滚柱轴承导轨，T型定位槽。Z轴测量范围：150mm; 测量系统：光电钢质光栅尺，分辨率：0.1um ; 测量精度：1.8 um + 0.005L um; QC测量计数器或IMS,OMS测量软件。*大承重：30Kg；其余各款型号包含300/400

产品描述

德国UHL精密测量显微镜特点：

精密测量显微镜之模块式设计－满足每一个用户的需求

工业：机器设备制造，汽车工业，航空航天，电子半导体，精密机械，光学，医学

研究：科研工程和高等院校

实验室：检验和鉴定实验室，刑事技术实验室

应用：质量控制，零件加工，产品研发，工具制造，成型制造，材料技术

检验：张力和非张力产品，弯曲和冲压零件，喷铸零件，电机和驱动零件，螺纹，刀具，电子器件，教学，光栅尺，医学组织

功能：长度和角度测量，轮廓测量，膜层厚度测量，材料分析，材料断裂分析

材料：金属，塑料，陶瓷，玻璃，橡胶

精密测量显微镜之基本机械结构：

沉稳结实的铸铁机身

极高的测量稳定性，受温度变化极小

极稳定的测量台，滚柱轴承导轨

可靠的工作台承受

测量台测量范围（X/Y）：150X100，250X150 mm

测量台快速定位，解除锁定，可手动任意移动和便捷精调测量台，可选电机驱动测量台

精密测量显微镜之测量系统：

光电测量系统，增量钢质光栅尺，分辨率 0.0001 mm

可选择Z-轴数字测量系统，测量范围 150 mm

极小的误差保证高精度测量

PTB认可的标定标准，按照VDI/VDE 2617 验证的定位精度

精密测量显微镜之光学系统：

远焦平场TELEPLAN测量物镜用于长度和形状测量

显微荧光物镜PLAN FLUOR 用于表面分析，如金相分析

远心光路的物镜意味着，即使没有聚焦在被测零件上，所成像的大小也不改变- 这是保证高精密测量**必要的前提。

物镜具有*高的光学质量，**的校正，平场无畸变的成像–所有物镜由徕卡LEICA设计

大的工作距离适合测量高的零件

物镜更换便捷，物镜转盘接口

摄像头接口，用于图象处理

双目观察

明场和暗场图象观察，可选偏振光源，相差干涉条纹对比（DIC）

光源：

外部卤素冷光源 30 – 250W

光纤导线

照明方式：透射，反射，倾斜照明和环形照明

金相分析：明场，暗场，干涉条纹对比和偏振

OMS/IMS 测量软件

OMS 测量软件灵活易学, 2，3维测量, 与手动或电动测量显微镜连接使用.

适合实验室或生产环境使用, 测量原始样本,批量测量.

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