德国FRT公司三维轮廓纳米测量仪粗糙度平面度翘曲度

北京德华振峡科技有限公司
新增产品 | 公司简介
注册时间：2005-03-23
联系人：
电话：
Email：

首页公司简介产品目录公司新闻技术文章资料下载成功案例人才招聘荣誉证书联系我们

产品目录

当前位置：

首页 > 产品目录 > 德国FRT公司三维轮廓纳米测量仪粗糙度平面度翘曲度

原子力显微镜 | 白光干涉仪 | 纳米表面测量 | 膜厚测量仪 | 三维轮廓仪

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	纳米表面测量仪 MicroProf / MicroGlider	德国FRT测量系统应用于所有类型的表面测量分析。纳米表面测量仪采用一个或多个传感器高精密测量轮廓特征，表面粗糙度，平面度、平行度以及形貌特征和薄膜厚度等。使用光学白光色差传感器进行非接触无损伤测量，工作距离大，快速输出2D或3D测量数据。适合研发和质控领域应用范围：半导体晶片加工检测；钠米刻蚀和操作；MEMS；IC封装；汽车制造系统；复合材料分析；生物分析磨擦分析；薄膜厚度测量，微细结构分析等。
	原子力显微镜 AFM	原子力显微镜 AFM 是利用测量探针与样品之间的作用力，进行纳米级的最高精度扫描分析。除了表面形貌还可以采用不同的测量模式分析材料的其他特性。扫描范围从20um×20um到80um×80um。可应用于半导体行业、汽车制造、皮革工业、造纸工业、生物学、聚合物、MEMS等我们的客户名单上有众多的世界著名企业。
	白光干涉仪 FRT WLI	白光干涉仪采用白光干涉测量传感器，其垂直分辨率可达0.1nm详细技术参数：测量原理:白光干涉测量；测量物镜10X 20X 50X垂直测量范围：100um(400um可选)垂直分辨率 0.1nm；X,Y测量范围:1.6X1.2mm 0.8X0.6mm 0.32X0.24mm；工作距离：3.6mm 3.6mm 1.7mm侧向分辨率2.5um 1.25um 0.5um 白光干涉仪
	厚度测量仪 MicroProf TTV	德国FRT公司生产的MicroProf TTV 绝对厚度测量系统，厚度测量仪除对绝对厚度进行测量外，还可以进行2D/3D轮廓测量、粗糙度等测量；广泛应用于半导体晶片、光学零件、金属薄片厚度检测等等
	FRT薄膜厚度测量仪 MicroProf FTR	FRT薄膜厚度测量仪采用膜层厚度测量传感器，非接触测量表面膜层，测量范围从10nm--250um，广泛应用于半导体晶片、光学镀膜加工、漆膜、氧化表面层测量。
	FRT三维轮廓测量仪 FRT MicroSpy Topo	该型号是FRT公司最近更新的产品，FRT三维轮廓测量仪在原有 TG/CF型号型号上，测量功能更加强大。除了用于测量零件外形轮廓的几何尺寸(点线，角度等)；共面性、平面度、平行度等；还可以测量表面粗糙度. 其特点是采用非接触无损测量，有效保护零件的表面；提供完整的2D和3D图；工作距离大，能够对精密汽车零部件、冲压注塑模型腔及其它零件进行快速准确的测量（如测直斜齿轮的模数、齿形角、尖角等）。

若网站内容侵犯到您的权益，请通过网站上的联系方式及时联系我们修改或删除