开放式光栅尺/圆光栅

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	圆磁栅－角度位置反馈 MR	圆磁栅－角度位置反馈：尺寸规格：1. 大: 外径72 mm、内径54 mm、宽度7 mm2. 中: 外径38 mm、内径31 mm、宽度6.5 mm3. 小: 外径19.75 mm、内径14.7 mm、宽度4.1 mm
	德国NUMERIK JENA光栅尺 LIA20	德国NUMERIK JENA光栅尺：由读头与尺带组合，用于位置量测.读头分辨率：1um、0.5um、0.1um、0.05um.尺带精度：±5um/m、±1um/m应用：金属加工设备　半导体设备　半导体生产与检测设备　线性马达与其他线性机构　测量机
	德国JENA圆光栅 RIK	德国JENA圆光栅金属加工设备　半导体设备　马达控制　旋转轴运动　倾斜轴运动　伺服马达　DD 马达 ( Direct Drive Motor, Torque Motor)　半导体设备　生物，医疗设备型号举例：EMR421B 39/3600-C0RS39/25/3600
	德国JENA高精度平面光栅尺 LIK-2D	德国JENA高精度平面光栅尺：1、二维线性测量光栅尺2、光栅周期20µm，玻璃盘3、测量范围可达105 x 89 mm（更大可以定制）4、测量角度范围大可达 ±10’5、细分大为×100，细分电路在15pin Sub-D接头内6、读头尺寸精巧7、多种安装方式8、高分辨率、高精度9、高细分精度，信号可自动调整10、每个测量方向一个原点信号
	NUMERIK JENA LIS 73-3系列封闭式光栅尺 LIS 73-3	德国NUMERIK JENA LIS 73-3系列封闭式光栅尺分辨率0.1µm,0.2µm,0.5µm,1µm；精度±2µm,±3µm,±5µm。
	NUMERIK JENA LIS 75-1系列封闭式光栅尺 LIS 75-1	德国NUMERIK JENA LIS 75-1系列封闭式光栅尺分辨率0.1µm,0.2µm,0.5µm,1µm；精度±2µm,±3µm,±5µm。

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