德国JENA高精度平面光栅尺
简介
1、二维线性测量光栅尺 2、光栅周期20 µm,玻璃盘 3、测量范围可达105 x 89 mm(更大可以定制) 4、测量角度范围*大可达 ±10’ 5、细分*大为×100,细分电路在15pin Sub-D接头内 6、读头尺寸精巧 7、多种安装方式 8、高分辨率、高精度 9、高细分精度,信号可自动调整 10、每个测量方向一个原点信号
技术参数
1、读头重量:17g (不含线) 2、可选分辨率:0.05µm、0.1µm、0.2µm、0.5µm、1µm、5µm 3、速度参数: 无细分电路--max. 600 m/min --->10 m/s 细分数x50--max. 96 m/min --->1.6 m/s 4、测量范围: 长度--105 x 89 mm(更大可以定制) 角度--±10’ 5、测量标准: 材质--玻璃,厚度1.1mm
鲁公网安备 37021302000339号