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产品资料

X射线镀层测厚仪

X射线镀层测厚仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:X射线镀层测厚仪
  • 产品型号:AXIOM系列
  • 产品展商:美国ACZET
  • 产品文档:无相关文档
简单介绍
X射线镀层测厚仪 AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。 X射线镀层测厚仪 AXIOM配备超高分辨率的探测器,是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。
产品描述

AXIOM系列 X射线镀层测厚仪 


AXIOM系列

适用于:|电子和电器|PCB|连接器|珠宝|电镀液分析|紧固件|硬件|

     AXIOM镀层测厚仪是基于X射线荧光光谱分析技术,该技术已被普遍认可并且得到广泛应用,可以在极少甚至无需样品制备的情况下提供易于操作、快速和无损的分析。可分析固体和液体,元素范围包括从元素周期表中的21Ti到92U 。

     AXIOM配备超高分辨率的探测器,是检测超薄镀层和痕量级元素成分的理想仪器。


一、功能:


1、性能及符合性:

通过PTB认证,符合*高辐射**标准

检测方法通过ISO 3497,ASTM B568,DIN 50987和IEC 62321等认证

开槽式大样品台

可编程的XY样品台

样品腔体积(宽/深/高):600 X 500 X 172.5mm(W X D X H)

特殊的防撞设计


2、可编程的样品台

预定位激光技术

*大化样品台行程范围及速度

自动测量


3、软件及校准

基于WINDOWS 10操作系统

选择经验校准以实现*大准确性或选择FP无标样模式以轻松

成分分析:可自由选择元素,同时实现多于20种元素的定量分析

厚度测量:可自定义镀层结构,*多同时测定5层


二、特点


采用微聚焦硼窗X射线光管,实现高精度、高可靠性,测量时间短、

使用寿命长、购置成本低

采用高分辨SDD探测器,提供能量级别的*佳效率,

极低的检出限(LOD)

多准直器可优化不同尺寸样品荧光信号产额,提高测量效率

开槽式超大样品舱设计,十分适合标准及超大样品

“USB接口”只需通过USB与计算机连接,无需额外硬件。

德国技术,符合*高工程标准

坚固耐用的设计可实现长期可靠性

通过PTB认证,满足*高辐射**标准


三、操作步骤


1、将样品放在大样品台上

     无损分析:无需样品制备

     样品易定位,大舱门和开槽设计有利于大型平板样品

     操作**

     侧窗式:更易观察到样品


2、选择样品测量点

     精准的测量点定位—高分辨率和高放大倍率的彩色影像装置

     操纵杆或鼠标控制实现快速简便的样品定位

     以客户定制的分析模式完成单点或多点分析

   

3、结果报告

     高清彩**像,易于识别

     测试结果一键导出到Word,Excel,HTML和PDF格式

     客户定制的报告,简单,灵活

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