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重庆内藤机械设备有限公司
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OTSUKA大塚電子
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产品简单介绍
功能齐全 重庆内藤销售 ELSZ-2000ZS 颗粒分子量测定系统 OTSUKA大塚電子
ELSZ-2000ZS
对应于粒径测量范围(0.6 nm至10μm)和浓度范围(0.00001%至40%)。*小容量为13 功能齐全 重庆内藤销售 ELSZ-2000ZS 颗粒分子量测定系统 OTSUKA大塚電子 0μL的一次性电池可以进行测量,从而可以测量电渗流和高度准确的ζ电位测量。 功能齐全 重庆内藤销售 ELSZ-2000ZS 颗粒分子量测定系统 OTSUKA大塚電子
功能齐全 重庆内藤销售 SF-3 光谱干涉式晶圆测厚仪 OTSUKA大塚電子
SF-3
配备原装分析引擎 功能齐全 重庆内藤销售 SF-3 光谱干涉式晶圆测厚仪 OTSUKA大塚電子 采用独特的厚度测量*佳分析算法 功能齐全 重庆内藤销售 SF-3 光谱干涉式晶圆测厚仪 OTSUKA大塚電子 厚度分布可以自动映射
功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子
FE-5000
除了能够进行高精度薄膜分析的分光椭圆偏振光谱仪之外,还可以通过安装测量角度的自 功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子 动可变机构来支持各种薄膜。除了传统的旋转分析仪方法之外,通过提供相位差板的自动 功能齐全 重庆内藤销售 FE-5000 光谱椭偏仪 OTSUKA大塚電子 回缩机构来提高测量精度。
功能齐全 重庆内藤销售 FE-300V 薄膜厚度监视器 OTSUKA大塚電子
FE-300V
对应于从薄膜到厚膜的宽膜厚度 功能齐全 重庆内藤销售 FE-300V 薄膜厚度监视器 OTSUKA大塚電子 使用反射光谱的厚度分析 功能齐全 重庆内藤销售 FE-300V 薄膜厚度监视器 OTSUKA大塚電子 结构紧凑·成本低,但非接触式,非破坏性和高度**的测量 简单的条件设置和测量操作!易于测量任何人的膜厚度
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