静态参数测试系统 - 西安天光测控技术有限公司

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	天光测控PN结电容特性测试仪 0	天光测控PN结电容特性测试仪测试参数: 二极管、三极管、MOSFET、IGBT等半导体分立器件的栅电阻Rg、输入电容Ciss、输出电容Coss、反馈电容Crss. 测量量程: 100 mΩ~100 MΩ, 10档量程（所有参数由Z规定）基本精度: Z: 0.05 % rdg. θ: 0.03°（代表值，精度保证范围：1mΩ~200MΩ）测量频率: 4 Hz~8 MHz (10 mHz~100 Hz步进) D C 偏压: 发生范围：DC电压0~200 V 输出阻抗: 通常模式：100 Ω, 低Z高精度模式: 10 Ω 来电垂询：零29-87-30-90-01/155-96-66-86-61
	天光测控IGBT开关特性测试仪 ST-DP_X（1200V200A）	品牌：天光测控IGBT开关特性测试仪型号：ST-DP_X（1200V200A）用途：用于 Si/SiC/GaN 材料的 MOSFET&IGBT开关时间参数测试，1200V/200A的输出能力，覆盖几乎所有的半导体分立式单管器件 02987309001/15596668116，欢迎垂询参数指标：开通延迟 td(on) 0.1ns~10us 关断延迟 td(off) 0.1ns~10us 上升时间 tr 0.1ns~10us 下降时间 tf 0.1ns~10us 开通时间 ton 0.1ns~10us 关断时间 toff 0.1ns~10us
	大功率半导体分立器件测试系统 ST-SP2005	ST-SP2005大功率半导体分立器件测试系统 1、系统内部及测试缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。 2、面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。 3、通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 4、系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。
	天光测控半导体特性测试仪 ST-DC2000_X	ST-DC2000_X 系列半导体特性测试仪 1、测试范围： IGBT，MOSFET，二极管；三极管，可控硅，光耦，继电器等19类器件 2、用途：静态直流参数测试（击穿电压，漏电流，阈值电压，饱和电压，压降等等） 3、测量精度：1mV / 10pA 4、规格：2000V,50A/100A/250A/750A/1KA/1.25KA 5、优势：ST-DC2000_X系列半导体特性测试仪提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用

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