大功率半导体分立器件测试系统 ST-SP2005 西安天光测控技术有限公司

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产品名称：大功率半导体分立器件测试系统
产品型号：ST-SP2005
产品展商：天光测控
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简单介绍

ST-SP2005大功率半导体分立器件测试系统 1、系统内部及测试缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。 2、面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。 3、通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。 4、系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

产品描述

ST-SP2005大功率半导体分立器件测试系统

系统概述

1、设备扩展性强，通过选件可以提高电压、电流和测试品种范围。

2、在PC窗口提示下输入被测器件的测试条件点击即可完成测试任务。

3、系统采用带有开尔文感应结构的测试插座，自动补偿由于系统内部及测试电缆长度引起的任何压降，保证测试结果准确可靠。
4、面板显示装置可及时显示系统的各种工作状态和测试结果,前面板的功能按键方便了系统操作。

5、通过功能按键，系统可以脱离主控计算机独立完成多种工作。
6、系统提供与机械手、探针台、电脑的连接口，可以支持各种不同辅助设备的相互连接使用。

测试系统指标

1、测试电压： ≤2KV
2、测试电流： ≤50A

3、电压分辨率： 1mV
4、电流分辨率： 0.1nA
5、测试精度： 0.2%±2LSB

测试范围

1、双向可控硅（TRIAC）
2、MOS场效应管（Power MOSFET）
3、绝缘栅双极大功率晶体管（IGBT）
4、结型场效应管（J-FET ）
5、晶体管（Transistor）
6、达林顿阵列(Darliknton)
7、稳压（齐纳）二极管（Zener）
8、二极管(Diode)
9、可控硅整流器（SCR ）
10、三端稳压器（REGULATOR ）
11、光电耦合器（OPTO-COUPLER）
12、双向触发二极管（DIAC)
13、固态过压保护器（SOVP）
14、继电器（RELAY）

参数条件：

技术参数	ENJ2005-A型
主极电压	10mV-2000V
主极电流	100nA-50A
扩展电流	100A、200A、400A、500A
电压分辨率	1mV
电流分辨率	100nA
测试精度	0.5%+2LSB
测试速度	0.5mS/参数

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