WK6500B系列稳科精密介电常数测试仪的相关介绍
1J6505B 20Hz~5MHz
1J6510B 20Hz~10MHz
1J6515B 20Hz~15MHz
1J6520B 20Hz~20MHz
1J6530B 20Hz~30MHz
1J6550B 20Hz~50MHz
1J65120B 20Hz~120MHz
●产品特色
1.简易的TFT触屏操作，10分钟内轻易上手
2.电介质、压电片及石英晶体测试解决方案
3.30 ms超高速测试速度
4.等效Rdc可高度精准四线式测试，量测到0.01mΩ
5.0.05%基本**度
6.可内建0-100mA
+/- 40V，外加可至60A DC Bias
7.可将测试波形储存成CSV格式，放大、缩小及MARKER功能
8.20Hz~120MHz，七种机型，可随时升级
，*高升级到120MHz
9.直觉的用户操作接口，USB、LAN、GPIB及HANDLER
10.可使用鼠标及键盘操控，也可外接打印机及使用USB接口储存数据
11.具等效电路仿真功能，内建同频率LCR Meter一台
准确快速的进行元件测试,±0.05%基本**度。
精准和多功能性使WK6500系列成为各种不同类型的工作和应用程式的理想选择。使用者包括被动元件设计师，电介体、绝缘体的设计测试人员，及生产线的测试人员。
工程师需要在高频率的状况下以极高的精度来定义元件的特性，WK6500B系列精密阻抗分析仪成为您准确易用的理想测试工具。
●测试参数
电容(C),电感(L),电阻(R),电导(G),电纳(B),电抗(X),损耗因数(D),品质因数(Q),阻抗(Z),导纳(Y),相位角(θ)、介电常数（ε′ 𝑟相对介电常数实部、ε′′r相对介电常数虚部、Dε相对介电损耗）、磁导率（μ ′ 𝑟相对磁导率实部、μ′′r相对磁导率虚部、Dμ相对磁导率损耗）
●高精度量测
电容C,电感L及阻抗Z基本**度为±0.05%。损耗因数D**度为±0.0005及品质因数Q**度为±0.05%。
●元件图形扫描
WK6500B系列精密阻抗分析仪不仅提供高频率，高精度的量测。该设备还是一个包含丰富特性的元件分析仪。
曲线扫描可依据频率、电压值和直流偏流源同时在清晰度高的大型彩色屏幕上显示任意两种参数的曲线。显示格式包括串联或并联等效电路。
单测某一频率时可以从曲线扫描转换成标准LCR表读值模式。
●可变的输出和偏压源
交流输出可选高达1V或20mA，实现在真实操作环境中来评估元件。可变偏压直流源可提供达100mA的电流.
●外部控制
在品管或制作档谱的过程中可通过GPIB介面来控制仪器和收取读值.
网端介面也具有同样的控制仪器和传输资料的功能 – 使仪器能适应许多不同的测试环境.
●多选择的介面
VGA介面可连接到PC显示器或投影机,这种功能为生产环境或教学培训都提供无法衡量的价值.本机还可通过外接键盘和滑鼠来操控,任何PS2或USB键盘和滑鼠都能简单的接插到系统中,提供控制和操作仪器的另一种可行方式.
●资料储存和提取
所有的测试结果及设制都可以通过网路介面或USB闪盘来储存.
●分类处理介面
Bin Handler为可选设制,通过25相D型接头提供独立(24V)和非独立(5V)的信号.
●印表机输出
测试结果可通过几种不同的途经列印出,其中包括直接列印至HP-PCL匹配的图形印表机, EPSON相匹配的文字印表机或直接通过仪器的网口经局域网列印.
●待测元件连接
可通过面板的BNC接头来实现俩端,三端或四埠的连接以及可能的接地状况.备有许多的可选附件以供不同的测试需要.
●充电电容保护
高精密的测试仪器可能在使用过程中被已充电的电容装置所损坏,造成昂贵的维修及不必要的停产. 6500系列有内置的保护来避免这种情况发生.
●综合,**的高频测试
“综合,**的高频测试”使该系列产品是高要求测试的优良选择.
测试夹具选择
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1J1020
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1J1022
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1J1011
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介电常数测试治具
（40MHz）
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液体介电常数测试治具
（30MHz）
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二线制DIP测试治具
（120MHz）
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1J1012
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1J1024
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1J1011W
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二线制SMD测试治具（弹片型）
（120MHz）
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二线制SMD测试治具（探针型）
（120MHz）
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四线制DIP 测试治具
(120MHz)
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1J1014
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1J1015
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1J10154
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四线制SMD测试治具
（120MHz）
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二线制DIP高电流测试治具
（125A）
（3MHz）
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四线制DIP高电流测试治具
（125A）
（3MHz）
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1J1016
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1J10164
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1J1023
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二线制SMD高电流测试治具
（125A）
（3MHz）
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四线制DIP高电流测试治具
（125A）
（3MHz）
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四线制转二线制高频转接头
（120MHz）
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1J1025
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1J1032
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1J10324
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探针式测量治具
（120MHz）
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二线制SMD底部电极测试夹具
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四线制SMD底部电极测试夹具
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1J1026
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1J1027
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1J1028
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二线制DIP高电流测试治具
（20A）
（120MHz）
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二线制DIP高电流测试治具
（40A）
（120MHz）
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二线制DIP高电流测试治具
（80A）
（120MHz）
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1J10264
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1J10284
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1J1036
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四线制DIP高电流测试治具
（20A）
（120MHz）
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四线制DIP高电流测试治具
（60A）
（120MHz）
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二线制DIP高电流测试治具
（250A）
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1J10362
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1J1100
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1J1031
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四线制DIP高电流测试治具
（250A）
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电容充放电保护单元
（3MHz）
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高频80A SMD 二线式底部接触式转接座
（120MHz）
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1J1037
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1J1001
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1J1002
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偏置电流夹具适配器
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四转一测试夹具
（120MHz）
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四转二测试夹具
（120MHz）
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1EV1006
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1EV1505
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1EV1905A
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四线式DIP测试治具
(1MHz)
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四线式测试夹具
(3MHz)
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两线式探针型高频测试线
(50MHz)
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1EV1905X
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1EVA40100
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1EVA40120
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两线式探针型高频测试线SMD
(50MHz)
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精密型测试夹具
(3MHz)
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SMD镊子式高精密测试夹具
(3MHz)
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1EVA40125
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1EVA40150
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1EVA40180
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SMD镊子式高精密测试夹具
(120MHz)
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镊子式高精密测试夹具
（尖型）
(3MHz)
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镊子式高精密测试夹具
（大型）
(3MHz)
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