3260B电感分析仪3MHz 磁性元件测试仪苏州裕登电子科技有限公司

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产品名称：3260B电感分析仪3MHz 磁性元件测试仪
产品型号：1J3260B
产品展商：英国稳科WK
产品文档：
3255B/3260B系列规格书

简单介绍

1J3260B 频率范围：20Hz～3MHz

产品描述

1J3260B 频率范围：20Hz～3MHz

●频率范围 (20Hz～3MHz)
●0.1%基本精度（英国标准），电感、变压器业界公认*佳标准仪器
●四线式测试，可**测量极低的Rdc、Rs、L和精准Q
●DC Bias(直流偏压) *高可到250A(Option)
●WK3260B内置1A DC Bias可直接画出磁饱和曲线或多点DC Bias与多点频率自动检测功能
●涵盖各式测量参数：Z(阻抗)、L(电感)、C(电容)、Rac(交流电阻)、Phase(相位)、Q(品质因数)、D(损耗因数)、Rdc(直流电阻) 、圈数比、漏电感和层间电容
●可透过IEEE488连线控制

测试夹具选择

	1J1020		1J1022		1J1011
介电常数测试治具（40MHz）		液体介电常数测试治具（30MHz）		二线制DIP测试治具（120MHz）
	1J1012		1J1024		1J1011W
二线制SMD测试治具（弹片型）（120MHz）		二线制SMD测试治具（探针型）（120MHz）		四线制DIP 测试治具 (120MHz)
	1J1014		1J1015		1J10154
四线制SMD测试治具（120MHz）		二线制DIP高电流测试治具（125A）（3MHz）		四线制DIP高电流测试治具（125A）（3MHz）
	1J1016		1J10164		1J1023
二线制SMD高电流测试治具（125A）（3MHz）		四线制DIP高电流测试治具（125A）（3MHz）		四线制转二线制高频转接头（120MHz）
	1J1025		1J1032		1J10324
探针式测量治具（120MHz）		二线制SMD底部电极测试夹具		四线制SMD底部电极测试夹具
	1J1026		1J1027		1J1028
二线制DIP高电流测试治具（20A）（120MHz）		二线制DIP高电流测试治具（40A）（120MHz）		二线制DIP高电流测试治具（80A）（120MHz）
	1J10264		1J10284		1J1036
四线制DIP高电流测试治具（20A）（120MHz）		四线制DIP高电流测试治具（60A）（120MHz）		二线制DIP高电流测试治具（250A）
	1J10362		1J1100		1J1031
四线制DIP高电流测试治具（250A）		电容充放电保护单元（3MHz）		高频80A SMD 二线式底部接触式转接座（120MHz）
	1J1037		1J1001		1J1002
偏置电流夹具适配器		四转一测试夹具（120MHz）		四转二测试夹具（120MHz）
	1EV1006		1EV1505		1EV1905A
四线式DIP测试治具 (1MHz)		四线式测试夹具 (3MHz)		两线式探针型高频测试线 (50MHz)
	1EV1905X		1EVA40100		1EVA40120
两线式探针型高频测试线SMD (50MHz)		精密型测试夹具 (3MHz)		SMD镊子式高精密测试夹具 (3MHz)
	1EVA40125		1EVA40150		1EVA40180
SMD镊子式高精密测试夹具 (120MHz)		镊子式高精密测试夹具（尖型） (3MHz)		镊子式高精密测试夹具（大型） (3MHz)