WayneKerrElectronics磁导率测试应用方案
1.磁材料样品制作
对磁性材料进行磁导率测试通常不会对成型不规则产品进行测试，因为导致其磁导率测试结果的不确定因素过多(如GAP深度、固定方式等)，所以都会将磁性材料塑形为标准的磁环，以利于进行测试计算。
2.测试相对磁导率方法
相对磁导率的测试，可以通过先测试空气线圈的电感和通过磁环的绕线交流电阻(不放入磁环)，然后将磁环放在同一个绕线线圈中再次测试电感和通过磁环的绕线交流电阻来实现，可以得出一个测试需要通过两次独立的测试来完成。通过上述的方法，用户可以先量测一个频率范围的不带磁芯的空气线圈的由感和交流电阳，并奖其存储在一个档中。这些
测试结果将在后续的测试带有磁芯的线圈中来时用，直至用户更换了不同的空气线圈，具体的计算公式可以参考附录的计算公式。
3.磁导率测试夹具
测试频密范围:20Hz~120MHz -基本测试精度:0.05%
无需在磁环上缠绕漆包线或丝包线
测试尺寸涵盖业内*大标准
25(外径)*15(内径)*10(高度)
取样放样方便快捷
被测物尺寸规格范围
项目
尺寸范围
外径
5.0mm~30.0mm
内径
4.1mm~29.8mm
厚度
0.01mm~15.0mm
4.1J1030夹具使用，配合1J1011使用
1、1J1030放置在1J1011上，装载样品 2、整套测试系统
5.1J1030配件一览表
部件名称
编号
名称
1
绝缘测试底座
2
测试腔体
3
中心电极顶针
4
测试产品托盘
5
上盖
6.WK6500B相对磁导率测试软件
WayneKerr6500B精密阻抗分析仪，软件选配有材料测试软件(订购代码/K)，这个软件只能安装在精密阻抗分析仪上，不能安装在6500P的高频LCR表上。通过这个软件可以更容易的计算出相对磁导率的相关参数，软件接口如下:
磁导率测试参数：
u*r 相对磁导率复数值
u'r 相对磁导率实部
u'r 相对磁导率虚部
tan□损耗因数
D 损耗因数
软件设置
NumberofturnsN’:绕在磁环上的圆数，在配合1030使用时设置成1
Average magnetic pathlength'磁环的平均磁路径长度
Cross-sectional area oftoroidA:磁环的截面积
Measure Lw/Rw referencedate:建立空气线圈参考档
7.测试接口
仪表模式 分析模式
测试夹具选择
1J1020
1J1022
1J1011
介电常数测试治具
（40MHz）
液体介电常数测试治具
（30MHz）
二线制DIP测试治具
（120MHz）
1J1012
1J1024
1J1011W
二线制SMD测试治具（弹片型）
二线制SMD测试治具（探针型）
四线制DIP 测试治具
(120MHz)
1J1014
1J1015
1J10154
四线制SMD测试治具
二线制DIP高电流测试治具
（125A）
（3MHz）
四线制DIP高电流测试治具
1J1016
1J10164
1J1023
二线制SMD高电流测试治具
四线制转二线制高频转接头
1J1025
1J1032
1J10324
探针式测量治具
二线制SMD底部电极测试夹具
四线制SMD底部电极测试夹具
1J1026
1J1027
1J1028
（20A）
（40A）
（80A）
1J10264
1J10284
1J1036
（60A）
（250A）
1J10362
1J1100
1J1031
电容充放电保护单元
高频80A SMD 二线式底部接触式转接座
1J1037
1J1001
1J1002
偏置电流夹具适配器
四转一测试夹具
四转二测试夹具
1EV1006
1EV1505
1EV1905A
四线式DIP测试治具
(1MHz)
四线式测试夹具
(3MHz)
两线式探针型高频测试线
(50MHz)
1EV1905X
1EVA40100
1EVA40120
两线式探针型高频测试线SMD
精密型测试夹具
SMD镊子式高精密测试夹具
1EVA40125
1EVA40150
1EVA40180
镊子式高精密测试夹具
（尖型）
（大型）