首页 >>> 产品目录 >>> 计测分析装置 >>> 相位差测试仪
仪表展览网 >>> 展馆展区 >>> 美国axometrics艾克松AxoScan相位差测试仪
> 美国axometrics艾克松AxoScan相位差测试仪

产品资料

美国axometrics艾克松AxoScan相位差测试仪

美国axometrics艾克松AxoScan相位差测试仪
  • 如果您对该产品感兴趣的话,可以
  • 产品名称:美国axometrics艾克松AxoScan相位差测试仪
  • 产品型号: OPMF-1
  • 产品展商:美国axometrics艾克松
  • 产品文档:
     AxoScan and AxoStep - 新簡報(CN)
简单介绍
产品描述

AxoScan and AxoStep是美国Axometrics公司生产的,AxoScan和AxoStep系统可以适用于任何应用程序,其中重要的是光偏振,并且它们被广泛部署的几个关键市场:Axometrics的系统所使用的液晶显示器的全球范围内的几乎每一个制造商。

他们被部署在各个领域的产品开发:研究和开发、生产、质量保证。

可以测量的参数:细胞间隙、扭转角、摩擦方向(TFT侧和CF端)、预倾斜角(TFT侧和CF侧)

可以测得的样品的类型:单域的LC细胞(TN,STN,OCB,VAN,IPS等)、多域LC细胞(MVA,PVA,PSVA,UV2A,FFS等)

面板可用的系统:样品6英寸和更小的实验室系统、PanelMappers用于面板至85英寸、生产系统母板到第10代、光学薄膜、AxoScan的的速度,精度和灵活性的行业标准系统的测试光学薄膜在世界各地

膜材检测:偏振片膜材检测、反射式偏振膜材检测、复合膜材检测、1/4波片膜材检测

设备AxoScan -OPMF-1实物参考图:

Multi-Layer 分析軟體組是一個很強的資料分析工具, 它是設計用來以非破壞性方法測量複合組合偏極控制 膜的單層的光學特性, 如視角補償偏光片及多元素波板. 使用 AxoScan 偏光計系統測量樣品之後, 軟體傳輸 多角及/或多波長 Mueller 矩陣數據且使用非線性曲線試合演算法去測定光學特性, 如已測樣品的單層折射 率及介質張量方位, 使用者輸入樣品的基本層結構(如 C-plate/偏光片/雙軸膜)且提供每一層特性的初始猜 值. 然後軟體試合已測數據, 以數學模式敘述 Multi-Layer 結構去測定每��層的光學特性數據.

操作系统界面:

产品留言
标题
联系人
联系电话
内容
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!
  • 温馨提示:为规避购买风险,建议您在购买前务必确认供应商资质与产品质量。
  • 免责申明:以上内容为注册会员自行发布,若信息的真实性、合法性存在争议,平台将会监督协助处理,欢迎举报
产品留言
标题
内容
联系人
联系电话
电子邮件
公司名称
联系地址
验证码
点击换一张
注:1.可以使用快捷键Alt+S或Ctrl+Enter发送信息!
2.如有必要,请您留下您的详细联系方式!