计测分析装置 - 成都藤田光学仪器有限公司

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产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	日本otsuka大塚电子多样品nano粒子径测量系统 nanoSAQLA AS50	产品信息特点nanoSAQLA的特点1个单元可轻松连续测量5个样品实现了在没有自动进样器的情况下难以实现的多个样品的连续测量，也可以通过改变每个样品的条件进行测量。
	日本otsuka大塚电子ZETA电位·粒径·分子量测系统 ELSZ-2000ZS	产品信息特点使用了*新型高感度APD，感度提升及缩短测量时间通过测量自动温度梯度空间，可分析出変性相转移温度可测量0～90℃大范围内的温度追加了大范围的分子量测量
	日本otsuka大塚电子ZETA电位·粒径测试系统	本产品为粒径及zeta电位测量专用装置。ELSZneoSE选择了ELSZneo的新功能。根据用途，可以根据需要定制任意数量的必要功能。
	日本otsuka大塚电子液晶层间隙量测设备	产品信息特点采用了偏光光学系和多通道分光检出器有可对应各种尺寸的装置，从1mm大小的光学素子到第10代的大型基板 **对策和粒子对策，可对应液晶line内的检查设备测量项目
	日本otsuka大塚电子彩色滤光片、彩色光刻胶测量装置 LCF系列	产品信息特点以透过光谱测量、色测量为代表，通过浓度测量、膜厚测量、反射光谱测量等，可对应彩色滤光片制造工程中的所有检查的装置可用于彩色滤光片的光学特性或玻璃基板...
	日本otsuka大塚电子分光干涉式晶圆膜厚仪SF-3	即时检测 WAFER基板于研磨制程中的膜厚玻璃基板于减薄制程中的厚度变化 (强酸环境中) 产品特色非接触式、非破坏性光学式膜厚检测采用分光干涉法实现高度检测再现性可进行高速
	日本otsuka大塚电子多通道光谱仪 MCPD-9800 / 6800	产品信息特长应用广泛的测量仪。以高机型MCPD-9800为首，一共有3种对应12波长领域的测量仪。我们可以根据客户的需求和用途提出适合的方案。不同评价方法对应不同设备
	日本otsuka大塚电子显微分光膜厚仪OPTM	非接触 · 非破坏 · 显微、对焦、测量1秒完成 ● OPTM系列显微分光膜厚仪是一款可替代椭偏仪，测试膜厚、折射率n、消光系数k、反射率的新型高精度、高性价比的分光膜厚仪。适用于各种可透光膜层的测试，并有**可针对透明基板去除背面反射，从而达到“真实反射率、膜厚”测试的目的。此外，软件操作简单、使用方便且简化了复杂的建模流程
	日本otsuka大塚电子ZETA电位粒径分子量测试系统 ELSZneo	【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的***机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。
	日本otsuka大塚电子多样品纳米粒子径测试系统 nanoSAQLA	nanoSAQLA是一台通过动态光散乱法（DLS法）测量粒径（粒径0.6nm~10um）的装置。支持从稀薄到浓厚系广泛浓度范围内的多检体测定的新光学系统，实现了实验室必需的轻量、小型化、标准1分钟的高速测定。另外，这是一款非浸泡型、不受接触器影响、无需自动取样器、标准配备“5检体连续测量”的新产品
	日本otsuka大塚电子光波动场三次元显微镜 MINUK	MINUK可评价nｍ级的透明的异物・缺陷，一次拍照即可瞬时获得深度方向的信息，可非破坏・非接触・非侵入的进行测量。且无需对焦，可在任意的面进行高速扫描,轻松决定测量位置。
	日本otsuka大塚电子Smart膜厚仪	可携带至现场的手持式可测量0.1μm单位具有形状的样品也可非破坏的测量不论基材材质、可测量其镀膜
	美国Axometrics艾克松穆勒矩阵旋光仪AxoScan（R0、Rth 和 Beta） OPMF-1	AxoScan 在 30 毫秒内同时测量样品所有可能的偏振特性。各种特定于应用的分析软件为几乎所有偏振相关设备或行业提供易于理解的数据。
	Mejiro Precision透射式透镜中心偏差测量仪 BLTCM-III (数字式)
	Mejiro Precision反射式透镜中心偏差测量仪 BLRCM-V
	美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技 AxoScan and AxoStep AR/VR	美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技美国AxoScan and AxoStep - AR/VR光学量测系统/町田科技
	美国AXOMETRICS艾克松-偏极化量测系统 LCD的量测LCOS Cell Gap的测量	应用范围：液晶（LCD）Cell Gap、Pre-tiltangle、Rubbing direction、twist angle量测多波长延迟片／相位差板（In Plate or Out of Plate）测量偏光片（板）测量多层膜（R0,Rth，B）快轴方位角度测量（Fast Axis Orientation) 3D Film的测量（FPR) 多面向的LCD的量测（PSVA Multi一Domain) 搭配软件应用，可量测膜厚、n/k值根据不同机型，搭配不同软件应用，可量测膜厚、n/k值 LCOS Cell Gap的测量 LCOS晶圆Retardance和电压特性关系的测量(须根据选配内容而定) 去极化量测
	美国AXOMETRICS艾克松/VRTF-3-MSRS-XY50-W12光斑式椭圆仪 VRTF-3-MSRS-XY50-W12-001	Axometrics偏光测定仪，为目前偏极化量测中快速的测量系统快速测量快轴方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延迟（Retardance）、偏光（Polarization）线性/椭圆/圆形的偏极化测量多波长Retardance频谱的R0(400-800nm) 快速测量Biaxial Films R0、Rth和β(须视机型而定) 具有旋转／倾斜机构，于测量时旋转角度可掌握(须视机型而定) 可承载大样品尺吋:12吋(须视机型而定) 操作容易的软件接口客制化测量模块组合
	美国AXOMETRICS艾克松 / Imaging Spectroscopic Ellipsometer影像式椭圆仪 ISR-1/EllipsoStep	共同特色: 使用旋转式PSCA系统搭配16位CCD相机同一时间量测影像中的每一点位每波长仅2.4秒波长范围介于 250至1,000nm间可选择欲使用镜头倍率特点：小区域的在线扫描薄膜厚度的2D影像
	日本TAISEI大成油液诊断仪 T-ODS-102	一种预测性维护工具，可根据颜色变化量化油状况，以防止机械和设备出现故障。

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