美国AXOMETRICS艾克松-偏极化量测系统

特性：

• Axometrics偏光测定仪，为目前偏极化量测中*快速的测量系统
• 快速测量快轴方位角度（Fast-axis Orientation）、相位延迟（Retardance）、偏光（Polarization）
• 线性/椭圆/圆形的偏极化测量
• 多波长Retardance频谱的R0(400-800nm)
• 快速测量Biaxial Films R0、Rth和β(须视机型而定)
• 具有旋转／倾斜机构，于测量时旋转角度可**掌握(须视机型而定)
• 可承载*大样品尺吋:12吋(须视机型而定)
• 操作容易的软件接口
• 客制化测量模块组合
• 设备大小皆提供客制化设计，不仅提供研究端使用，也能对应至产在线使用

应用范围：

• 液晶（LCD）Cell Gap、Pre-tiltangle、Rubbing direction、twist angle量测
• 多波长延迟片／相位差板（In Plate or Out of Plate）测量
• 偏光片（板）测量多层膜（R0,Rth，B）
• 快轴方位角度测量（Fast Axis Orientation)
• 3D Film的测量（FPR)
• 多面向的LCD的量测（PSVA Multi一Domain)
• 搭配软件应用，可量测膜厚、n/k值
• 根据不同机型，搭配不同软件应用，可量测膜厚、n/k值
• LCOS Cell Gap的测量
• LCOS晶圆Retardance和电压特性关系的测量(须根据选配内容而定)
• 去极化量测

Poincare sphere 显示可更清楚的了解光的偏极化状态可量测出不同波长(400-800nm)下的相位差值波长的分散性。

Rth 值测量差距时具有可调控之校正机制，精密度高。

高速的测量可帮助各种补偿膜的发展研究。