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X-3600 贵金属检测仪
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X-3600 贵金属检测仪
产品资料
X-3600 贵金属检测仪
如果您对该产品感兴趣的话,可以
产品名称:
X-3600 贵金属检测仪
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其他品牌
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简单介绍
X-3600是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。
产品描述
产品详情:
X-3600是一种体现X射线荧光分析技术*新进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。
仪器检测能力强,分辨率高,适用于各行业对不同元素进行无损检测。在不同工作环境下分析范围从Al(13号元素)到U(92号元素)。无损分析迅速,无需制样,测试时间从几秒到几分钟可调。检测精度从PPM级别到千分之**别。
强势功能
1. 基本参数法对从铝(13号元素)至铀(92号元素)定性分析测量。
2.包裹样品检测辨别系统。
3.样品室高清成像定位系统,方便微小样品定位测量。
4.电制冷与内部双向循环冷却恒温系统相结合,维持内部工作环境稳定。
5. 内部动力学风道设计,快速排出多余热量。
6.双峰位快速自动校准。
7.双箱体结构,抗干扰能力强且方便硬件升级。
8.仪器工作方法任意开发。
9. 定量分析:包括经验系数法,理论a系数法和基本参数法。
10.定性分析:包括Kl谱线标记法,谱图比较法,光标自动寻峰等。
11.测试报表根据客户要求独立设计。
整机技术规格
1.外型尺寸:600mm×530mm×330mm
2. 可测试样品大小:关仓测量:220mm×200mm×150mm
开仓测量:无限大
3. 仪器重量:50公斤
4.工作环境温度:0——35℃
5. 工作环境相对湿度:≤80%
6. 元素分析范围:铝(Al)——铀(U)
7. 含量分析范围:1PPM——99.999%
8.测量时间:10——180秒可调
9. 激发源:低功率X射线管
10.高压电源:美国Spellman原装进口高压电源
11.探测器:美国Amptek原装进口电制冷Si-Pin半导体探测器
12. 仪器分辨率:
55
Fe的能量为5.9Kev的MnK
α
线,分辨率优于149eV
13.多道分析器:2048道
14.软件:基于WINDOWS的强大工作软件
15. 客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法
16.工作电源:交流 220V 50Hz
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