SEF-3500表面粗糙度轮廓测定机上海昭沅仪器设备有限公司

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产品名称：SEF-3500表面粗糙度轮廓测定机
产品型号：SEF-3500
产品展商：其它品牌
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简单介绍

SEF-3500表面粗糙度轮廓测定机，可进行高精度，高水平分析和多功能粗糙度轮廓测量。操作简单，显示一目了然。

产品描述

KOSAKA LAB SEF 3500(表面粗糙度轮廓测定机)

Surfcorder SEF3500表面粗糙度轮廓一体机，可进行高精度，高水平分析和多功能粗糙度轮廓测量。操作简单，显示一目了然。

特点：

*高精度表面粗糙度轮廓测定机，一机两用，可进行表面粗糙度和轮廓形状测量。
*配备有符合*新ISO,DIN,ANSI,JIS标准的五十多种评价参数。
*一个宽范围，高分辨率的检测器，提供了在同类产品中更优越的高精度测量。
*通过简单的一次性操作，可更换形状、轮廓、测定装置与表面粗糙度测量装置，并不必对电缆重新布线。
*配有易于操作的操作杆，选定需要操作的轴，即可实现任何的移动。
*SEF 3500配有全息光栅尺，可提高宽/窄范围测量精度和Z轴的分辨率，增加更加稳定的**系数。
*独特的真直度保证。
*驱动装置可以任意倾斜45度，更方便不规则样品的量测。

规格：

1.粗糙度测定
测定参数：多达五十多种，见产品目录。
放大倍率：纵50-500000，横1-5000。
测定范围：纵600um,横100mm。
记录项目：测定值，测定条件，日期时间，输入资料（各种文字及图形资料）。
评价长度：0.25,0.8,2.5,8,25,80mm/任意值（0.2mm以上）
/λc x1，x2，x3，x4，x5。
驱动速度：0.05，0.1，0.2，0.5，1，2 mm/s，高速移動，5，10mm/s及手动。
切断值（cut-off）:
粗度：λc 0.025，0.08，0.25，0.8，2.5，8 mm，无cut-off。
波纹度：fl 0.8,2.5,8,25mm,fh 0.08,0.25,0.8,2.5mm。
滤波方式：高斯（Gauss），2CR，特殊高斯。
资料点/分解能：*大32000点/16位元。
自动水平：*小二乘法，二点法，R曲面补正，二次曲线补正。
辅助功能：*自由排列组合记录，记录图刻划，平均处理，统计处理，中途终止，测定再演算，检出器登记，注解记录，自动感度校正，mm/inch单位切换，自动测定，部分处理，图形放大缩小。
检出器上下动作：检出器上下范围250mm。
自动停止精度±0.2um/100mm。（靴片使用时）
X轴真直度精度：0.2um/100mm。
检出器：触针R2um钻石头，测定力0.7mN。

2.轮廓测定
解析项目：

排列：原点移动，回转，反转，移动。
要素解析：点，线，圆，山，谷，交点，中点，接点，反转。
刻划量：坐标差，距离，夹角。
放大倍率：纵横1-200倍。
测定范围：纵50mm，横100mm。
驱动速度：0.02，0.05,0.1,0.2,0.5,1,2mm/s。高速移动2,10mm/s及手动。
资料数：*大32000点。
补助机能：自由排列组合记录，记录图刻划，巨集功能，图形放大缩小，数位圆弧补偿，过负荷防止，跳动上下，正反两方向测定。
检出器上下动作范围：200mm。
真直度精度：1um/100mm。
检出器：R25um,10-30mN,追随角度：爬升77度，下坡87度。

共同规格：
测定台：(含支柱Column)：測定台W600 x D315 mm，承載重量70kg，花崗岩材质。
倾斜调整台：承載面積　160 x 50 mm，V 溝槽(測定方向)。水平傾斜±3°，垂直傾斜±3°Y方向移動量±3 mm。
装置尺寸：測定部：W600 x D395 x H593/80kg
演算部：W900 x D600 x H520 / 30kg

其他型号请咨询：admin@instsun.com

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