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产品资料

瑞典XCounter 双能探测器

瑞典XCounter 双能探测器
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  • 产品名称:瑞典XCounter 双能探测器
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简单介绍
瑞典XCounter 双能探测器、 光子计数 直接转换 能量分辨 •XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料 •直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率 •可获得更小细节的清晰图像 •动态范围大,这对于获取整幅图像非常重要 •光子计数,具有更高的灵敏度,可在非常低的剂量下工作 •采用双能曝光,具有区分材料的能力
产品描述

 

瑞典XCounter 双能探测器、
光子计数直接转换能量分辨
XCounter 采用CdTe作为直接转换X射线探测器的转换材料
•直接转换X射线探测器具有更好的空间分辨率
•可获得更小细节的清晰图像
•动态范围大,这对于获取整幅图像非常重要
•光子计数,具有更高的灵敏度,可在非常低的剂量下工作
•采用双能曝光,具有区分材料的能力
双能
XCounter具有能量分辨能力,可以分辨出不同的材料
一次X射线获取,可记录两种不同能量的X射线吸收剂量
利用不同组织和骨骼的吸收剂量的不同的特点,可以从图像
中把它们区分出来
使得XCounter在医疗和工业领域独具特色
独特的卖点
独特的传感器
FLITE
0.75mm / 1mm CdTe *大 225kV
成像面积 150mm x 25.6mm, 12.8mm, 6.4mm
拼接的探测器
100 um 像素
TDS快速扫描
模块设计,电子器件可再生利用,重组变成一个新的产品,
同样的板子可适用于不同宽度
板子和板子之间的通讯允许链接
可对接的,以形成一个区域探测器
单一的开发库
基础材料
一块PCB板,适用于
所有的探测器
传感器阵列和PCB
间灵活连接,可以有
不同的形式(未展示)
 
 
串联拼接探测器
串联拼接,形成更长的线阵探测器
*长至1m
 
 
 
 
产品描述
XC-FLITE FX1FX2FX3是直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
 
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
 
引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE FX系列产品的先进之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。  
 
集成
XC-FLITE FX系列,通过GigE接口将XC-FLITE FX系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE FX的功能;可用在Windows XPVistaWindows7Windows8系统平台
 
应用
*小范围辐照   
*小动物成像
*实验室样品和标本成像    
*工业检测(NDT
 
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,**的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*兼容Windows操作系统,从XPWindows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
 
基本参数

物理参数
 
 
尺寸L×W×H
 
XC-FLITE FX123.1×13.1×6.0 cm
XC-FLITE FX2
38.6×13.1×6.5 cm
XC-FLITE FX3
54.0×13.1×6.5 cm
温度控制
 
内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度
 
+10 - +40
储藏温度
 
-10-+60 @ 10% to 95% 湿度
射线窗
 
碳纤维,500μm
射线屏蔽
 
根据应用
传感器
 
 
传感器数量
 
FX11   FX22    FX33
传感器类型
 
双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度
 
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积
 
FX1154.7×12.8mm (1536×128像素)
FX2
309.4×12.8mm (3072×128像素)
FX3
464.1×12.8mm4608×128像素)
像素
 
100μm
像素填充率
 
100%
 
 
 
性能
 
 
帧率
 
*高1000 fps(也可选择时间延迟求和模式)
动态范围
 
12 bits
图像面元
 
1×12×24×4
成像时间
 
100μs-5s
DQE0
Detective Quantum Efficiency
 
85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function
 
80% @ 2lp/mm  
45% @ 5lp/mm
KV范围
 
15-250kVp
内部测试图样
 
Pseudo-random debug pattern
外部触发输出
 
3.3V TTL
输入
 
5V
滞后
 
0%
拖影
 
0.1%  X射线开启后1分钟,(12μGy

分辨率和DQE曲线(反符合开CC on和闭CC off  
 
 
 
 
 
 
 
 
 
 
产品描述:PDT25-DE
紧凑型、直接数字转换、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,PDT25-DE是一个小视场探测器,适用于潜在宽泛的能量范围。
 
PDT25-DE
可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式。
 
引进反符合技术的双能采集功能,是PDT25-DE先进之处,在双能采集过程中,探测到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。采用反符合技术,可以确保将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。
 
集成
通过高速率USB接口将PDT25-DE连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有PDT25-DE的功能;可用在Windows XPVista Windows7Windows8系统平台上。
 
应用
*
小范围辐照  
*
小动物成像 
*
实验室样品和标本成像 
*
反向散射成像  
*
工业检测(NDT
 
特点和优势
*CdTe-CMOS
传感器,高品质成像
*
双能采集,具有材料区分能力
*
反符合技术,**的能量分辨率
*
可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*
兼容Windows操作系统,从XPWindows8
*
绑定强大的可编程的开发软件
 
技术参数
 

物理参数
 
 
尺寸L×W×H
 
94×54×20mm
重量
 
150g235g带钨防护)
温度控制
 
内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度
 
+15 - +45
储藏温度
 
-10 - +50 @ 10% -95% 湿度
*大消耗功率
 
10W
射线窗
 
碳纤维,250μm
射线屏蔽
 
根据应用
 
 
 
传感器
 
 
传感器类型
 
双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度
 
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积
 
25.6×25.6 mm2
像素
 
100μm
像素填充率
 
100%
 
 
 
性能
 
 
帧率
 
*高35fps
动态范围
 
12 bits
成像时间
 
100μs-5s (通过软件,可以设置更长时间)
DQE0
Detective Quantum Efficiency
 
85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function
 
80% @ 2lp/mm
45% @ 5lp/mm
KV范围
 
15-140 kVp
内部测试图样
 
Pseudo-random debug pattern
外部触发输出
 
3-3 V TTL
输入
 
3-15V
滞后
 
0%
拖影
 
0.1%  X射线开启后1分钟(12μGy

 
 
分辨率和DQE曲线(反符合开CC on和闭CC off  

 
 
 
 
 
 
产品描述
XC-FLITE X1X2X3是直接数字转换、自扫描、双能采集、光子计数X射线探测器,用于数字X射线成像系统,基于新型强大的CdTe-CMOS传感器平台研发而成,XC-FLITE X系列适用于潜在宽泛的能量范围。
 
XC-FLITE X系列可以基于帧率成像,也可以采用时间延迟总和(TDS)模式,扫描速度*高90mm/s
 
引进反符合技术的双能采集功能,是XC-FLITE X系列产品的先进之处,在双能采集过程中,收集到的光子能量分别设置为两个独立的阈值,并分别读出,两个能量设置可以用来区分材料,为医疗和工业新成像技术开启了大门。反符合技术的引进,可以通过保证将每一个光子信号分布在正确的像素点上,以获取更高的能量分辨率。  
 
所有精心设计的运动部件需要在XC-FLITE X系列的内部自动控制,整个扫描过程是透明可见的。
 
集成
XC-FLITE X系列,通过GigE接口将XC-FLITE X系列连接到计算机上,自带灵活的软件开发包,可控制所有XC-FLITE X的功能;可用在Windows XPVista Windows7Windows8系统平台
 
应用
*小范围辐照   
*小动物成像
*实验室样品和标本成像    
*工业检测(NDT
 
特点&优势
*三种尺寸可选
*CdTe-CMOS传感器,高品质成像
*自扫描设计,透明可见
*双能采集,具有材料区分能力
*反符合技术,**的能量分辨率
*可基于帧率成像,也可以选择时间延迟总和(TDS)模式
*扫描速度*高90mm/s
*兼容Windows操作系统,从XPWindows8
*绑定强大的可编程的开发软件
 
技术参数单
基本参数

物理参数
尺寸L×W×H
 
XC-FLITE X132.9×22.0×5.5cm
XC- FLITE X2
54.2×40.2×8.7cm
XC-FLITE X3
63.0×57.1×8.5cm
温度控制
 
内部的珀尔帖效应温度控制
环境温度
 
+10 - +40
储藏温度
 
-10-+60 @ 10% - 95% 湿度
射线窗
 
碳纤维,500μm
射线屏蔽
 
根据应用
传感器
 
传感器数量
 
X11   X22    X33
传感器类型
 
双能光子计数 CdTe-CMOS
传感器厚度
 
0.75mm-2.0mm CdTe
有效面积
 
X1154.7×12.8mm(1536×128像素)
X2
309.4×12.8mm(3072×128像素)
X3
464.1×12.8mm4608×128像素)
像素
 
100μm
像素填充率
 
100%
性能
 
*大扫描速度
 
X190 mm/s   X2 & X3255 mm/s
帧率
 
*高1000 fps (也可选择时间延迟总和模式)
动态范围
 
12 bits
图像面元
 
1×12×2 4×4
成像时间
 
100μs-5s
DQE0
Detective Quantum Efficiency
 
85%@RQA5 spectra
MTF
Modulation Transfer Function
 
80% @ 2lp/mm  
45% @ 5lp/mm
KV范围
 
15-250kVp
内部测试图样
 
Pseudo-random debug pattern
外部触发输出
 
3.3V TTL
输入
 
5V
滞后
 
0%
拖影
 
0.1%  X射线开启后1分钟,(12μGy

 
 
分辨率和DQE曲线(反符合开CC on和闭CC off  

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