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青岛吉瑞丰精密仪器有限公司
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四探针测试仪
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产品名称/型号
产品简单介绍
KDY-1A便携式电阻率/方阻测试仪
产品简介 1、符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。 2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体,也可测量薄硅片电阻率及方阻。 3、电阻率测量范围复盖*常用的区段:0.01—199.9Ω·cm。(可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能) 方块电阻测量范围复盖*常用的区段:0.1—1999Ω/□。(可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能) 4、配置高精度恒流源,测量电流稳定,分两档:1mA、10mA,每档均可在大范围内调节(1mA:0.1—1mA;10mA:1mA—10mA)。 5、测量精度高:电器测量精度优于0.3%; 整机测量误差:测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。 测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。 6、重量轻,约2.5kg;体积小:240×210×100(mm)。 7、可配用多种探针间距
SX1934型数字式四探针测试计探头
产品说明 四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。
四探针测试仪SX1934测试架
四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器。 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用旋扭式开关控制,及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术,使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。
SX1934(原SZ82)型数字式四探针测试计
四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业,还能满足科研单位的精密研究。 四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻(薄层电阻)测试专用仪器。 仪器以大规模集成电路为核心部件,采用旋扭式开关控制,及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术,使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。
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