四探针测试仪 - 青岛吉瑞丰精密仪器有限公司

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	KDY-1A便携式电阻率/方阻测试仪	产品简介 1、符合半导体材料电阻率的国际及国家标准测试方法。 2、测量厚度大于4倍探针间距的硅晶体，也可测量薄硅片电阻率及方阻。 3、电阻率测量范围复盖常用的区段：0.01—199.9Ω·cm。（可添加电阻率小于0.5Ω·cm的报警功能）方块电阻测量范围复盖常用的区段：0.1—1999Ω/□。（可添加方块电阻小于5Ω/□的报警功能） 4、配置高精度恒流源，测量电流稳定，分两档：1mA、10mA，每档均可在大范围内调节（1mA：0.1—1mA；10mA：1mA—10mA）。 5、测量精度高：电器测量精度优于0.3%；整机测量误差：测量1-100Ω·cm的标准硅片误差≤±3%。测量大于100Ω·cm和小于1Ω·cm的标准硅片误差≤±5%。 6、重量轻，约2.5kg；体积小：240×210×100（mm）。 7、可配用多种探针间距
	SX1934型数字式四探针测试计探头	产品说明　　四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。
	四探针测试仪SX1934测试架	四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。　　仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。
	SX1934(原SZ82)型数字式四探针测试计	四探针测试仪是运用四探针测量原理的多用途综合测量装置。广泛用于半导体厂家、太阳能行业，还能满足科研单位的精密研究。四探针测试仪是根据单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国A.S.T.M 标准设计的半导体材料电阻率及方块电阻（薄层电阻）测试专用仪器。　　仪器以大规模集成电路为核心部件，采用旋扭式开关控制，及各种工作状态LED指示。应用微计算机技术，使得测量读数更加直观、快速。整套仪器体积小、功耗低、测量精度高、测试速度快、稳定性好、易操作。

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