FT-333普通四探针电阻率方阻测试仪
本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。
表面电阻测定仪
液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输**、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
表面电阻测定仪参数资料
1.方块电阻范围：10-3～2×105Ω/□
2.电阻率范围：10-4～2×106Ω-cm
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度：±0.2%读数
5.电阻精度：≤0.3%
6.显示读数：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 普通单电测量
8.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
10.选购功能: 选购1.pc软件；选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针 四探针法,针测试台、四探针探头薄膜电阻测试仪 四探针法,针测试台、四探针探头薄膜电阻测试仪 四探针法,针测试台、四探针探头薄膜电阻测试仪
表面电阻测定仪
表面电阻测定仪
