四探针方块电阻测试仪原理采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度、电导率，
四探针方块电阻测试仪原理配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，
对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高**度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
四探针方块电阻测试仪原理
1.方块电阻范围：101～2×1010Ω/□
2.电阻率范围：102～2×1011Ω-cm
3.测试电流范围：1mA ---1pA
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：108Ω以下≤5% ；108Ω以上≤20%
6.测试方式: 双电测量
7.工作电源: 输入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
8.整机不确定性误差: ≤4%（标准样片结果）
9.选购功能: 选购1.pc软件； 2.方形探头； 3.直线形探头； 4.测试平台
10.测试探头： 探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针
四探针方块电阻测试仪原理配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置.广泛用于：外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜。
四探针方块电阻测试仪原理
