产品详情
简单介绍:
高温电阻率测试仪采用PC软件一套,USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据! 多功能,测试量程范围宽,可更换探针结构,高温电阻率测试仪
详情介绍:
高温电阻率测试仪
1、电阻测量范围: 1×104Ω ~1×1013Ω。
电 阻 率:1.0×104 ~ 2.0×1013 Ω-m;
2、液晶显示: 电阻率、温度、电流电压、可输入测试样品数据;单位可以切换(mm、cm、m)
3、内置测试电压:0-1000V任意可设定
4、基本准确度:2%
高温电阻率测试仪
5、机内测试电压: 10/50/100/250/500/1000V 任意设定
6、供电形式: AC 220V,50HZ,功耗约5W
7、测量模式:手动/自动量程。带PC测试软件,USB通讯接口,软件界面同步显示、分析、保存和打印数据!
8、常用电极(夹具)装置:固体状三环电极装置
9.*高温度: 1200℃可调节;冲温值:≤1-3℃;控温精度:±1°C
10、升温速度:9999分钟以内自由设定,一般10分钟内即可升到900℃;功率:3kw.
11、炉膛材料:采用复合陶瓷纤维材料,具有真空成型,高温不掉粉的特征。
12.选购:电脑和打印机
高温电阻率测试仪
用于:企业、高等院校、科研部门对导电陶瓷、硅、锗单晶(棒料、晶片)电阻率、测定硅外延层、扩散层和离子注入层的方块电阻以及测量导电玻璃(ITO)和其它导电薄膜等新材料方块电阻、电阻率和电导率数据.
双电测四探针仪是运用直线四探针双位测量。设计参照单晶硅物理测试方法并参考美国 A.S.T.M 标准。
采用四探针双电组合测量方法测试方阻和电阻率系统与高温箱结合配置高温四探针测试探针治具与PC软件对数据的处理和测量控制,解决半导体材料的电导率对温度变化测量要求,软件实时绘制出温度与电阻,电阻率,电导率数据的变化曲线图谱,及过程数据值的报表分析.
高温电阻率测试仪
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