产品详情
简单介绍：
四探针方阻电阻率测试仪 本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，四探针方阻电阻率测试仪
详情介绍：
四探针方阻电阻率测试仪
按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针
法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准，本机配置232电脑接口及USB两种接口。
四探针方阻电阻率测试仪
本机采用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.
四探针方阻电阻率测试仪
本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。
四探针方阻电阻率测试仪
采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输**、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
四探针方阻电阻率测试仪
采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输**、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
四探针方阻电阻率测试仪
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规格型号
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FT-331
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FT-332
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FT-333
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FT-334
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FT-335
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FT-336
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1.方块电阻范围
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10-4～2×105Ω/□
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10-4～2×103Ω/□
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10-3～2×105Ω/□
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10-3～2×103Ω/□
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10-2～2×105Ω/□
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10-2～2×103Ω/□
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2.电阻率范围
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10-5×106cm
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10-5×104-cm
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10-4～2×106Ω-cm
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10-4～2×104-cm
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10-3～2×106Ω-cm
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10-3～2×104-cm
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3.测试电流范围
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0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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10μA，100µA，1mA，10mA，
100 mA
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0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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4.电流精度
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±0.1%读数
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±0.2%读数
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±0.2%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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5.电阻精度
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6.显示读数
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液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
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7.测试方式
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普通单电测量
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8.工作电源
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输入耗：（标准样片结果）
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10.选购功能
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选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
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ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
专业与精致并重；优良与智慧之原
四探针方阻电阻率测试仪
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