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简单介绍：
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻,本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具本机范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
详情介绍：
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输**、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高**度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
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规格型号
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FT-341
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FT-342
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FT-343
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FT-345
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FT-346
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FT-347
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1.方块电阻范围
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10-4～2×105Ω/□
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10-4～2×103Ω/□
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10-3～2×105Ω/□
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10-3～2×103Ω/□
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10-2～2×105Ω/□
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10-2～2×103Ω/□
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2.电阻率范围
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10-5～2×106Ω-cm
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10-5～2×104-cm
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10-4～2×106Ω-cm
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10-4～2×104-cm
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10-3～2×106Ω-cm
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10-3～2×106Ω-cm
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3.测试电流范围
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0.1μA,μA,0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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0.1μA,μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
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4.电流精度
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±0.1%读数
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±0.2%读数
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±0.2%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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±0.3%读数
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5.电阻精度
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6.显示读数
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大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
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7.测试方式
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双电测量
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8.工作电源
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输入耗：（标准样片结果）
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10.选购功能
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选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
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ROOKO/
四探针测试仪测量半导体材料的方块电阻
相关产品：FT-310炭素电阻率测试仪；FT-303表面电率阻率/体积电阻率测试仪； FT-304绝缘材料表面/体积电阻率测试仪 ；FT-302电缆半导电屏蔽层电阻率测试仪； FT-300经济型粉末电阻率测试仪 ； FT-300A 材料电阻率测试仪； FT-300B电线电缆电阻率测试仪 ； FT-320 材料超低电阻及电阻率测试仪 ； FT-300C 材料电导率测试仪；FT-300D方块电阻测试仪 ；FT-301多功能粉末电阻率测试仪
ROOKO/瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
专业与精致并重；优良与智慧之原
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