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FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪,按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪还GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准
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FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
按照硅片电阻率测量的国际标准（ASTM F84）及国家标准设计制造该仪器设计符合GB/T 1551-2009 《硅单晶电阻率测定方法》、GB/T 1551-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流两探针法》、GB/T 1552-1995《硅、锗单晶电阻率测定直流四探针法》并参考美国 A.S.T.M 标准。
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
本机配置232电脑接口及USB两种接口，本机用范德堡测量原理能改善样品因几何尺寸、边界效应、探针不等距和机械游移等外部因素对测量结果的影响及误差，比市场上其他普通的四探针测试方法更加完善和进步,特别是方块电阻值较小的产品测量，更加准确.
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
本仪器本仪器采用四探针单电测量法适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输**、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
FT-331普通四探针方阻电阻率测试仪
1.方块电阻范围：10-4～2×105Ω/□
2.电阻率范围：10-5～2×106Ω-cm
3.测试电流范围：0.1μA ，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度：±0.1%读数
5.电阻精度：液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式: 普通单电测量
8.工作电源:功
9.整机不确定性误差:瑞柯品牌，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
专业与精致并重；优良与智慧之原
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