物性测试仪器及设备 - 广州市淘仪贸易有限公司

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原位纳米力学测试系统 | 探针式轮廓仪（台阶仪） | 机械测试仪 | 三维光学轮廓仪 | 密度计

产品图片	产品名称/型号	产品简单介绍
	EDM 5000 全自动密度计	EDM 5000 全自动密度计能实现**和快速的测量 EDM 5000 全自动密度计集成基准振荡管 EDM 5000 全自动密度计能自动检测有无气泡
	全自动密度计 EDM 4000+	全自动密度计 EDM 4000+能**和快速的测量全自动密度计 EDM 4000+集成基准振荡管全自动密度计 EDM 4000+可自动检测气泡
	三维光学轮廓仪NPFLEX	三维光学轮廓仪NPFLEX可配置硬件和软件，满足几乎任何样品、形状或尺寸的测量需要。崎岖建筑，适应严格的制造环境。三维光学轮廓仪NPFLEX自动化测量例程，加快生产计量和分析结果。
	三维光学轮廓仪HD 9800+	三维光学轮廓仪HD 9800+完全自动化，提供高速滑块CCT和PTR特性。三维光学轮廓仪HD 9800+***/倾斜头，使快速自动化计量具有高的重复性。流线型软件，简化了操作员对操作员的数据存储、分析和报告的使用。
	三维光学轮廓仪ContourSP	三维光学轮廓仪ContourSP综合性工业计量，实现快速、高精度的PCB生产控制。三维光学轮廓仪ContourSP独树一帜的系统特征，确保高的产量，大的正常运行时间，低的成本。高值吞吐量，提供2倍更快的数据，而不影响准确性。
	三维光学轮廓仪Contour Elite X	三维光学轮廓仪Contour Elite X具有可靠光学测量，通知可量化的研发和QA/QC决定。三维光学轮廓仪Contour Elite X的真色、成像揭示以前隐藏的微观细节。柔韧、分期和固定，根据您的具体样本和应用情况量身定做。
	三维光学轮廓仪CONTEBGT-X	三维光学轮廓仪CONTEBGT-X完全自动化，提供快，简单的纳米尺度测量。三维光学轮廓仪CONTEBGT-X可定制生产接口，提供流线型流程工作流、自动映射和负载测量配方。三维光学轮廓仪CONTEBGT-X能自行校准，激光基准，确保*佳的生产计量，重复性和鲁棒性。
	全自动三维计量台式机 Contracx-500	全自动三维计量台式机配备*/倾斜光学头，测量不同角度的表面特征，同时小化跟踪误差。全自动三维计量台式机拥有先进的用户界面，提供对预编程过滤器和分析的广泛库的直观访问. 整合，空气隔离，在节省空间的足迹中提供佳的计量精度。
	Contracex-100型光学轮廓仪	Contracex-100型光学轮廓仪具有行业佳的Z轴分辨率提供恒定的，的测量，独立放大。 Contracex-100型光学轮廓仪拥有***的计量价值，提供流线型设计，而不损害测量能力。用户友好的软件接口，提供对预编程过滤器和分析的广泛库的直观访问。
	机械测试仪TriboLab CMP	机械测试仪TriboLab CMP**小规模研发系统中的 ROI，此台式工具可再现全尺寸晶圆抛光工艺条件，而无需在生产设备上停机。机械测试仪TriboLab CMP灵活参数控制，允许量身定制的测试，以加快材料开发，并优化流程。专家应用和支持，我们与大型安装基地合作多年，为您的实验室提供专业知识。
	机械测试仪UMT TriboLab	机械测试仪UMT TriboLab出色的模块化，可适应各种速度和扭矩，几乎执行所有可能的摩擦学测试。机械测试仪UMT TriboLab广泛的能力，模拟广泛的环境，实现*的测试范围。 **的易用性，无需学习复杂的脚本语言或编程。
	Dektak XTL探针式轮廓仪	Dektak XTL探针式轮廓仪自动化设置和操作，基于参考位置和众多测量位置进行编程，以大限度地提高测试通量并大限度地减少出错。 Dektak XTL探针式轮廓仪双摄像机控制，更快地简化测量设置和定位到感兴趣点。容易分析和数据收集，自动执行分析程序，仅报告复杂样本上所需的特征。
	纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope	纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope定量刚性探针，消除基于弹性悬臂的纳米压痕测试技术固有的不确定性和复杂性。纳米力学测试仪器Hysitron TS75 TriboScope直观联用接口，可简便与流行的商用 AFM 的集成，包括布鲁克的Dimension ICON, Dimension Edge和MultiMode 8等。
	纳米力学测试仪器Hysitron IntraSpect 360	纳米力学测试仪器Hysitron IntraSpect 360° X射线，透明查看窗口，提供无遮挡的成像和简化的材料变形 μCT 研究，包括断裂和失效的发生。纳米力学测试仪器Hysitron IntraSpect 360独特的三板电容式传感器技术，在材料失效的 4D 研究（如光纤矩阵接口的裂纹传播或焊接接头内的空隙行为）期间，可提供****的稳定性。
	Hysitron IntraSpect 90纳米压痕仪	定量纳米尺度到微米尺度力学测试，提供高达 500 mN 的载荷和 150 μm 的位移，具有****的噪音水平。 Hysitron IntraSpect 90纳米压痕仪具有高刚性框架的设计，轻松安装在现有光学或拉曼显微镜平台上。 Hysitron IntraSpect 90纳米压痕仪独特PTP （压转拉）样品安装，允许通过同步的 Raman 光谱成像对光纤、电线和其他样品进行单轴拉伸测试。
	Hysitron BioSoft生物型纳米压痕仪	Hysitron BioSoft生物型纳米压痕仪定量力学性能测量，提供独特的力灵敏度和位移范围组合，专门设计用于测量从亚细胞到组织水平的生物样品。 Hysitron BioSoft生物型纳米压痕仪*大化测试灵活性，轻松与倒置显微镜集成，以表征各种生物材料。先进生物力学控制模块，在单个测试中实现不同控制，包括载荷、位移和开环控制。
	纳米力学测试系统Hysitron TS 77 Select	纳米力学测试系统Hysitron TS 77 Select的基本核心测试模块，包括纳米压痕、动态纳米压痕、纳米划痕、纳米摩擦磨损和原位SPM成像。纳米力学测试系统Hysitron TS 77 Select使用电容式传感器技术，提供高灵敏度和低热漂移，在纳米到微米尺度上实现可靠的表征。直观控制软件和操作，让操作员实现技术人员级的可靠测量。
	纳米力学测试系统Hysitron TI Premier	纳米力学测试系统Hysitron TI Premier强大功能模块，为准静态纳米压痕、动态表征、高温特性和跨尺度测试提供量身定制的解决方案。纳米力学测试系统Hysitron TI Premier，确保纳米级力学和摩擦测试的准确、可靠、定量。适应系统配置，支持广泛的复合和相关表征技术，以满足当前和未来表征需求。
	纳米力学测试系统Hysitron TI 980 纳米压痕仪	纳米力学测试系统Hysitron TI 980 纳米压痕仪**的控制和测试带宽，提供快的反馈控制和低噪音水平，实现真正的定量纳米机械和纳米摩擦特性。纳米力学测试系统Hysitron TI 980 纳米压痕仪同步多尺度和多技术测量，支持纳米压痕到微米压痕、纳米划痕、纳米摩擦磨损、动态纳米压痕、原位 SPM 成像和高速性能成像。
	TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95	TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95深度感应纳米压痕，实现TEM内纳米力学测试的直接观测。 TEM PICOINDENTER系列 Hysitron PI95高性能控制模块，提供高达78 kHz反馈速率和38 kHz的数据采集速率，以捕获瞬态事件(如错位突变等)。三级定位系统，包括三轴定位器、3D压电调整器和用于静电驱动和电容位感应的传感器。

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