Contracex-100型光学轮廓仪在*佳价格点上为**和可重复的非接触式表面计量设置了一个新的基准。小足迹系统提供不妥协的2D/3D高分辨率测量功能，在一个流线型封装，融合了几十年的**布鲁克白光干涉测量(WLI)的**。下一代增强包括一个新的5 MP相机和更新阶段的更大的缝纫能力，和一个新的测量模式，USI，为精密加工表面，厚膜和摩擦学应用更大的方便和灵活性。您将找不到一个比Contracex-100型光学轮廓仪更有价值的桌面系统。
Contracex-100型光学轮廓仪是40多年来在非接触式表面计量、表征和成像领域的专有光学**和行业**地位的**。该系统利用三维WLI和二维成像技术，在一次采集中进行多次分析。Contracex-100型光学轮廓仪在所有表面情况下都是稳健的，反射率从0.05%到100%不等.
有了数千个定制的分析和Bruker的简单而强大的VisionXpress™和VI 64用户界面，Contracex-100型光学轮廓仪为实验室和工厂的生产力进行了优化。硬件和软件相结合，提供流线型的高通量光学性能，完全超过可比的计量技术。
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